中文摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-13页 |
·研究背景 | 第9-10页 |
·相关研究 | 第10-12页 |
·本文主要工作 | 第12页 |
·本文组织结构 | 第12-13页 |
第2章 VLSI布图设计和布局方法 | 第13-29页 |
·集成电路发展现状 | 第13页 |
·VLSI设计流程 | 第13-15页 |
·系统规范说明 | 第14页 |
·寄存器传输级设计 | 第14-15页 |
·逻辑设计 | 第15页 |
·电路设计 | 第15页 |
·物理设计 | 第15页 |
·设计验证 | 第15页 |
·布图设计 | 第15-18页 |
·版图划分 | 第16页 |
·布图规划 | 第16-17页 |
·布局 | 第17页 |
·布线 | 第17-18页 |
·压缩 | 第18页 |
·布图规划常见算法 | 第18页 |
·布局得表示方法 | 第18-27页 |
·可二划分结构 | 第19-20页 |
·不可二划分结构 | 第20-27页 |
·层次化布局 | 第27页 |
·本章小结 | 第27-29页 |
第3章 基于约束布局算法的实现 | 第29-54页 |
·模拟退火算法及其优化流程 | 第29-35页 |
·模拟退火算法简介 | 第29-30页 |
·模拟退火算法基本导出 | 第30-32页 |
·模拟退火算法的要素 | 第32-34页 |
·本文提出的优化流程 | 第34-35页 |
·约束问题描述与定义 | 第35-39页 |
·约束问题及其定义 | 第35-38页 |
·布局问题的描述 | 第38-39页 |
·基于B~*-tree的约束布局可行性分析 | 第39-44页 |
·水平方向对齐约束模块组的可行性分析 | 第39-40页 |
·水平方向对齐约束模块组的可行性分析 | 第40-41页 |
·性能约束模块组的可行性分析 | 第41-43页 |
·基于B~*-tree表示法的约束布局合法条件 | 第43-44页 |
·布局中模块的重叠处理和B~*-tree表示法的扰动机制 | 第44-47页 |
·布局中模块的重叠处理 | 第44-45页 |
·B~*-tree表示法的扰动机制 | 第45-47页 |
·约束的实现 | 第47-52页 |
·水平方向对齐约束的实现 | 第48-49页 |
·竖直方向对齐约束的实现 | 第49-50页 |
·性能约束的实现 | 第50-52页 |
·实验结果 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第4章 增量式约束布局的研究 | 第54-63页 |
·问题描述 | 第54-55页 |
·增量式布局问题分析 | 第55-57页 |
·解决方法的可行性分析 | 第57-59页 |
·增量式布局问题的解决 | 第59-61页 |
·实验结果 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第5章 总结及未来发展 | 第63-66页 |
·本文总结 | 第63-64页 |
·工作展望 | 第64-66页 |
·多约束并存的布局 | 第64-65页 |
·时延约束的布局方法 | 第65页 |
·精确的增量式布局约束 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
附录 | 第71页 |