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轴向双异质结纳米线的理论和实验研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
目录第8-10页
符号说明第10-11页
第一章 绪论第11-19页
   ·半导体纳米线第11-12页
   ·半导体纳米线异质结第12-14页
   ·论文的结构与安排第14-16页
 参考文献第16-19页
第二章 纳米线的生长技术第19-37页
   ·纳米线的制备技术第19-28页
     ·气相法第19-25页
     ·基于溶液生长纳米结构第25-27页
     ·半导体微结构材料生长和精细加工相结合的制备技术第27-28页
   ·纳米材料的表征方法及测试技术第28-33页
     ·扫描电子显微镜技术(SEM)第28-30页
     ·透射电子显微镜技术(TEM)第30-33页
   ·本章小结第33-34页
 参考文献第34-37页
第三章 轴向双异质结纳米线的临界尺寸分析第37-55页
   ·低维材料的应力应变模型及位错的弹性理论第37-39页
   ·单异质结纳米线的临界尺寸理论及实验研究第39-45页
     ·晶格失配衬底上纳米线异质结理论分析第39-40页
     ·轴向单异质结纳米线的临界尺寸研究第40-45页
   ·双异质结纳米线的应力场分析第45-47页
   ·双异质结纳米线的临界尺寸分析第47-50页
   ·本章小结第50-52页
 参考文献第52-55页
第四章 GaAs/InGaAs/GaAs轴向双异质结纳米线的实验研究第55-63页
   ·生长实验方案第56页
   ·实验结果分析及讨论第56-61页
   ·本章小结第61-62页
 参考文献第62-63页
致谢第63-65页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第65页

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