基于VXI总线多通道时序触发模块的研究与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| ·概述 | 第8页 |
| ·选题背景及意义 | 第8-10页 |
| ·本课题选题背景 | 第8-9页 |
| ·本课题的应用前景 | 第9-10页 |
| ·VXI模块国内外应用概况 | 第10-11页 |
| ·本文主要工作内容 | 第11-13页 |
| 2 时序产生原理及方案 | 第13-16页 |
| ·概述 | 第13-14页 |
| ·主要技术指标要求 | 第14页 |
| ·时序产生原理 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 3 VXI总线多通道时序触发模块总体设计 | 第16-23页 |
| ·VXI总线系统概述 | 第16页 |
| ·VXI总线多通道时序模块的总体设计 | 第16-20页 |
| ·多通道时序产生单元 | 第17-18页 |
| ·多通道时序延时自检单元 | 第18页 |
| ·参数可调脉冲信号产生单元 | 第18-19页 |
| ·光纤接口通讯单元设计 | 第19-20页 |
| ·模块硬件开发工具 | 第20-21页 |
| ·模块软件开发工具 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 4 VXI总线时序触发模块硬件设计 | 第23-45页 |
| ·概述 | 第23页 |
| ·VXI接口单元设计 | 第23-24页 |
| ·VXI总线器件类型的选择 | 第23页 |
| ·寄存器基器件接口电路设计 | 第23-24页 |
| ·基本配置寄存器 | 第24-31页 |
| ·识别(ID)寄存器 | 第25-26页 |
| ·器件类型寄存器 | 第26-27页 |
| ·状态寄存器 | 第27-28页 |
| ·控制寄存器 | 第28-29页 |
| ·操作寄存器 | 第29-30页 |
| ·时序产生寄存器 | 第30-31页 |
| ·时序延时自检寄存器 | 第31页 |
| ·FPGA及外围电路设计 | 第31-34页 |
| ·FPGA | 第32页 |
| ·电源转换电路设计 | 第32-33页 |
| ·时钟与复位电路设计 | 第33页 |
| ·调试接口及下载配置电路设计 | 第33页 |
| ·总线缓冲驱动电路设计 | 第33-34页 |
| ·电平转换电路设计 | 第34页 |
| ·模块功能单元设计与实现 | 第34-44页 |
| ·多通道时序产生单元设计 | 第35-38页 |
| ·多通道时序延时自检单元设计 | 第38-40页 |
| ·参数可调脉冲产生单元设计 | 第40-43页 |
| ·光纤驱动单元输出设计 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 5 模块软件设计 | 第45-59页 |
| ·概述 | 第45页 |
| ·模块驱动程序的设计 | 第45-52页 |
| ·仪器驱动器概述 | 第45-46页 |
| ·仪器驱动器的设计 | 第46-52页 |
| ·应用软件的设计 | 第52-57页 |
| ·发送配置数据 | 第54-55页 |
| ·延时自检功能 | 第55页 |
| ·清零及启动控制 | 第55页 |
| ·配置数据存储 | 第55-56页 |
| ·多通道时序延时自检面板 | 第56-57页 |
| ·参数可调脉冲产生面板 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 6 实验调试 | 第59-64页 |
| ·验证系统组成 | 第59页 |
| ·验证系统实验 | 第59-62页 |
| ·多通道时序输出功能的验证 | 第60-61页 |
| ·参数可调脉冲信号的测量 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 7 总结 | 第64-66页 |
| ·本文工作内容总结 | 第64页 |
| ·进一步的工作 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 附录1 | 第71-72页 |
| 附录2 | 第72页 |
