组合电路软错误敏感性分析与加固
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·辐射环境 | 第8-10页 |
| ·产生软错误的机理 | 第10-11页 |
| ·国内外发展状况 | 第11-13页 |
| ·软错误检测 | 第11-12页 |
| ·组合电路加固的方法 | 第12页 |
| ·组合电路SER 的分析方法 | 第12-13页 |
| ·课题主要研究内容和论文结构 | 第13-14页 |
| 第2章 晶体管软错误敏感性分析 | 第14-27页 |
| ·单粒子辐射模型的建立 | 第14-18页 |
| ·SET 模型的建立 | 第14-16页 |
| ·脉冲电流模型的建立 | 第16-18页 |
| ·影响脉冲幅度的因素 | 第18-23页 |
| ·注入电荷量对脉冲幅度的影响 | 第19-20页 |
| ·节点电容对脉冲幅度的影响 | 第20-21页 |
| ·工艺尺寸对脉冲幅度的影响 | 第21页 |
| ·电源电压对脉冲幅度的影响 | 第21-23页 |
| ·影响脉冲宽度的因素 | 第23-25页 |
| ·注入电荷量对脉冲宽度的影响 | 第23页 |
| ·节点电容对脉冲宽度的影响 | 第23-24页 |
| ·工艺尺寸对脉冲宽度的影响 | 第24页 |
| ·电源电压对脉冲宽度的影响 | 第24-25页 |
| ·晶体管抑制软错误的能力 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 组合电路基本单元加固方法 | 第27-54页 |
| ·概述 | 第27页 |
| ·加施密特触发器实现电路加固 | 第27-35页 |
| ·施密特触发器的工作原理 | 第27-29页 |
| ·软错误屏蔽电路 | 第29页 |
| ·基本单元电路加固 | 第29-34页 |
| ·性能分析 | 第34-35页 |
| ·加箝位装置实现电路加固 | 第35-44页 |
| ·箝位电路结构 | 第35-36页 |
| ·箝位电路工作原理 | 第36-37页 |
| ·基本单元电路加固 | 第37-43页 |
| ·性能分析 | 第43-44页 |
| ·加冗余晶体管实现电路加固 | 第44-52页 |
| ·电路加固原理 | 第44-46页 |
| ·基本单元电路加固 | 第46-51页 |
| ·性能分析 | 第51-52页 |
| ·不同加固方法的比较 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 组合电路软错误敏感性分析 | 第54-67页 |
| ·组合电路的三种屏蔽作用 | 第54-56页 |
| ·电屏蔽 | 第54-55页 |
| ·逻辑屏蔽 | 第55页 |
| ·锁窗屏蔽 | 第55-56页 |
| ·节点敏感性分析 | 第56-57页 |
| ·节点发生SET 的概率 | 第57-63页 |
| ·临界幅度 | 第58-60页 |
| ·临界能量 | 第60-63页 |
| ·输入向量的传播概率 | 第63-66页 |
| ·局部脉冲传播 | 第63-65页 |
| ·全局脉冲传播 | 第65-66页 |
| ·锁存窗与时钟周期之比 | 第66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 组合电路加固方法 | 第67-75页 |
| ·加施密特触发器方法在组合电路中的应用 | 第67-72页 |
| ·组合电路的SER | 第67-71页 |
| ·组合电路加固 | 第71-72页 |
| ·加箝位装置方法在组合电路中的应用 | 第72-74页 |
| ·逻辑单元的临界深度 | 第72-73页 |
| ·组合电路加固 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
