| 第一章 引言 | 第1-13页 |
| ·超导简介和发展 | 第9-10页 |
| ·超导电子技术的优越性 | 第10-11页 |
| ·高温超导薄膜 | 第11-12页 |
| ·本文内容 | 第12-13页 |
| 第二章 高温超导薄膜的微波表面电阻 | 第13-20页 |
| ·超导电性 | 第13页 |
| ·二流体模型 | 第13-14页 |
| ·高温超导薄膜的表面电阻 | 第14-18页 |
| ·超导体与常规金属Rs 的比较 | 第18-20页 |
| 第三章 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法讨论 | 第20-37页 |
| ·端面替代法 | 第20-22页 |
| ·平行板谐振器法 | 第22页 |
| ·介质谐振器法 | 第22-23页 |
| ·双谐振器法 | 第23-25页 |
| ·镜像型蓝宝石介质谐振器法 | 第25-37页 |
| ·镜像法的理论模型 | 第26-28页 |
| ·A、B 值的确定 | 第28-30页 |
| ·如何确定A、B 的值 | 第28-29页 |
| ·R_(S1) 和R(S2) 的选择 | 第29-30页 |
| ·校准方法 | 第30-32页 |
| ·固有品质因数的测量 | 第32-33页 |
| ·镜像型蓝宝石介质谐振器法的改进过程 | 第33-37页 |
| 第四章 测试方法的改进 | 第37-58页 |
| ·拟改进双谐振器测试方法 | 第37-42页 |
| ·理论分析 | 第37-39页 |
| ·测试系统的研制 | 第39-40页 |
| ·固有品质因数的测量 | 第40-41页 |
| ·再次改进后的测试方法 | 第41-42页 |
| ·第四代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统的分析与改进 | 第42-58页 |
| ·镜像对称性分析 | 第42-48页 |
| ·蓝宝石晶体对镜像对称性的影响 | 第44-45页 |
| ·耦合装置对镜像对称性的影响 | 第45-47页 |
| ·校准头和测试传感头洁净度的不同造成的不对称 | 第47-48页 |
| ·第四代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统的改进 | 第48-54页 |
| ·测试方法的理论模型 | 第48-49页 |
| ·测试系统的建立 | 第49-54页 |
| ·第四代镜像型蓝宝石介质谐振器测试系统的进一步改进 | 第54-58页 |
| 第五章 测试结果及分析 | 第58-71页 |
| ·金腔测试结果 | 第58页 |
| ·洁净度检测装置测试结果 | 第58-60页 |
| ·微波表面电阻测试腔体测试结果 | 第60-63页 |
| ·校准结果 | 第60-62页 |
| ·Rs 测试结果及分析 | 第62-63页 |
| ·微波表面电阻测试腔体重复测试结果 | 第63-66页 |
| ·实验中的改进 | 第66-71页 |
| 第六章 结论 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 个人简历 | 第76页 |