首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--数字电路论文

基于0.18μm CMOS工艺的6位GS/s并行模数转换器设计

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第一章 绪论第9-15页
   ·概述第9-10页
   ·模数转换的主要应用领域第10-11页
     ·通信领域第10-11页
     ·数据存储领域第11页
   ·模数转换的发展趋势第11-13页
   ·本论文的研究意义及结构第13-15页
第二章 ADC 的性能指标和结构第15-39页
   ·概述第15-17页
   ·ADC 的性能指标第17-26页
     ·静态参数第17-21页
       ·微分非线性(DNL)第17-18页
       ·积分非线性(INL)第18-19页
       ·失调误差(Offset Error)第19-20页
       ·增益误差(Gain Error)第20-21页
       ·分辨率(Accuracy)第21页
       ·精度(Resolution)第21页
     ·频域动态参数第21-24页
       ·信噪比(SNR)第22页
       ·信号与噪声加谐波失真比(SNDR)第22-23页
       ·有效位(ENOB)第23页
       ·总谐波失真(THD)第23页
       ·无杂散动态范围(SFDR)第23-24页
     ·时域动态参数第24-26页
       ·孔径时间(Aperture delay)第24-25页
       ·缝隙抖动(Aperture jitter)第25-26页
     ·其他参数第26页
       ·功耗第26页
       ·转换时间和转换速率第26页
     ·小结第26页
   ·高速ADC 的结构第26-36页
     ·全并行模数转换(Flash ADC)第27-28页
     ·分段结构模数转换器(Subranging ADC)第28-29页
     ·多级结构(Multistep ADC)第29-30页
     ·流水线结构(Pipeline ADC)第30-32页
     ·插值技术(Interpolation)第32-33页
     ·折叠结构(Folding ADC)第33-34页
     ·过采样结构(Oversamping ADC)第34-35页
     ·逐次逼近型(SAR)ADC第35-36页
     ·小结第36页
   ·高速数据转换器设计存在的问题第36-39页
     ·时间误差(Timing Error)第36-37页
     ·失真误差(Distortion Error)第37-39页
第三章 6 比特超高速全并行ADC 设计第39-63页
   ·概述第39页
   ·系统模块设计第39-62页
     ·参考电压生成电路第40-42页
     ·前置放大器设计第42-46页
     ·比较器设计第46-53页
       ·比较器设计的一般指标第47-50页
       ·再生锁存比较器设计第50-52页
       ·锁存电路第52-53页
     ·编码电路设计第53-61页
       ·编码类型第53页
       ·温度计码中的火花码第53-56页
       ·比较器的亚稳态效应第56-58页
       ·温度计码/格雷码编码电路第58-61页
       ·格雷码/二进制码编码电路第61页
     ·输出缓冲器设计第61-62页
   ·小结第62-63页
第四章 电路的仿真与版图设计第63-73页
   ·电路的仿真第63-69页
     ·电路的仿真原理图第63-66页
     ·电路仿真形式第66页
     ·系统仿真结果第66-68页
     ·小结第68-69页
   ·电路的版图第69-73页
     ·概述第69页
     ·版图设计的考虑因素第69-70页
     ·ADC 的版图设计第70-72页
     ·小结第72-73页
第五章 结论与前景第73-75页
   ·结论第73-74页
   ·下一步工作第74-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-80页
研究成果第80-81页

论文共81页,点击 下载论文
上一篇:时钟产生系统中的锁相环电路设计
下一篇:基于0.5μm CMOS工艺低压多级放大器设计