掺锑二氧化锡薄膜(ATO)的制备及其性质研究
摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-12页 |
第一章 绪论 | 第12-26页 |
·引言 | 第12页 |
·ATO薄膜的研究现状 | 第12-13页 |
·ATO薄膜的制备技术 | 第13-18页 |
·薄膜特性的表征方法 | 第18-24页 |
·本文研究目的及意义 | 第24-26页 |
第二章 薄膜样品的制备 | 第26-31页 |
·薄膜样品的制备流程 | 第26-28页 |
·改进的薄膜样品的制备流程 | 第28-29页 |
·本章小结 | 第29-31页 |
第三章 ATO薄膜的结构和成分分析 | 第31-41页 |
·ATO薄膜的XRD分析 | 第31-36页 |
·ATO薄膜的SEM分析 | 第36-37页 |
·ATO薄膜的XPS分析 | 第37-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第四章 ATO薄膜的光学特性分析 | 第41-49页 |
·ATO薄膜的椭偏光谱 | 第41-47页 |
·ATO薄膜的反射光谱 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第五章 ATO薄膜的电学特性分析 | 第49-60页 |
·方块电阻分析 | 第49-50页 |
·MOS结构介电特性分析 | 第50-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第六章 结论及展望 | 第60-62页 |
·本文结论 | 第60-61页 |
·展望 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第67页 |