首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--大规模集成电路、超大规模集成电路论文

基于总线调度与缓冲器添加的SOC测试方法研究

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
插图索引第10-12页
附表索引第12-13页
第1章 绪论第13-21页
   ·本文的研究背景第13-16页
   ·国内外研究现状第16-18页
     ·SOC的特性第16-17页
     ·国内研究现状第17页
     ·国外研究现状第17-18页
   ·SOC测试面临的挑战第18-19页
   ·本文研究的目的与意义第19-20页
   ·本文的主要工作与组织结构第20-21页
第2章 SOC的基本测试概念与测试调度第21-36页
   ·引言第21页
   ·SOC的测试原理第21-27页
   ·SOC的测试结构第27-33页
     ·Wrapper的测试配置第27-28页
     ·测试访问机制的设计第28-31页
     ·SOC并行测试结构的设计第31-33页
   ·测试调度第33-35页
   ·小结第35-36页
第3章 总线与缓冲器共同优化的测试结构第36-44页
   ·引言第36页
   ·测试结构设计第36-40页
   ·缓冲器设计第40-42页
   ·控制器设计第42-43页
   ·小结第43-44页
第4章 测试调度算法与实验结果第44-55页
   ·引言第44页
   ·测试调度算法设计第44-51页
     ·算法建模第44-45页
     ·算法流程第45-49页
     ·算法实现第49-50页
     ·算法优化第50-51页
   ·实验结果与分析第51-54页
     ·实验过程第51-53页
     ·实验结果分析第53-54页
   ·小结第54-55页
结论第55-57页
参考文献第57-61页
附录A 攻读硕士学位期间参加的项目第61-62页
致谢第62页

论文共62页,点击 下载论文
上一篇:10比特50兆采样频率Pipeline结构模数转换器的设计
下一篇:片上网络低费用测试方法研究