| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 选题背景和研究意义 | 第8-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3 本文研究工作 | 第13-15页 |
| 1.4 本章总结 | 第15-16页 |
| 第2章 概念设计阶段缺陷形成过程研究 | 第16-25页 |
| 2.1 设计缺陷的基本概念 | 第16-18页 |
| 2.1.1 设计缺陷的定义 | 第16-17页 |
| 2.1.2 产品设计缺陷的分类 | 第17-18页 |
| 2.2 硬件产品的设计开发模式 | 第18-21页 |
| 2.2.1 串行设计开发模式 | 第18-20页 |
| 2.2.2 并行设计开发模式 | 第20-21页 |
| 2.3 概念设计阶段缺陷的形成机理 | 第21-24页 |
| 2.3.1 产品概念设计过程 | 第21-23页 |
| 2.3.2 设计缺陷形成机理 | 第23-24页 |
| 2.4 本章总结 | 第24-25页 |
| 第3章 基于过程方法的概念设计阶段缺陷影响因素分析 | 第25-51页 |
| 3.1 基于过程方法的设计缺陷分析技术路线 | 第25-28页 |
| 3.1.1 过程和过程方法的概念 | 第25-26页 |
| 3.1.2 过程方法的内容 | 第26页 |
| 3.1.3 设计缺陷分析技术路线 | 第26-28页 |
| 3.2 概念设计阶段缺陷影响因素分析 | 第28-46页 |
| 3.2.1 需求分析阶段影响因素分析 | 第28-35页 |
| 3.2.2 建立产品设计规格 | 第35-36页 |
| 3.2.3 概念设计方案生成 | 第36-42页 |
| 3.2.4 概念设计方案的选择与评价 | 第42-46页 |
| 3.3 设计缺陷的定量描述 | 第46-50页 |
| 3.3.1 模糊层次分析法 | 第46-47页 |
| 3.3.2 举例分析 | 第47-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 基于设计活动的设计缺陷分析 | 第51-69页 |
| 4.1 设计缺陷的形成和发展 | 第51-55页 |
| 4.1.1 概念设计活动和设计缺陷的关系 | 第51-52页 |
| 4.1.2 硬件产品概念设计过程缺陷构成 | 第52-54页 |
| 4.1.3 设计活动的时序关系 | 第54-55页 |
| 4.2 基于设计活动的缺陷分析 | 第55-61页 |
| 4.2.1 设计活动内的设计缺陷分析 | 第55-59页 |
| 4.2.2 设计活动间的缺陷分析 | 第59-61页 |
| 4.3 不同时序关系的设计缺陷分析 | 第61-63页 |
| 4.4 实例分析 | 第63-67页 |
| 4.4.1 手持式打钉机概念设计活动分析 | 第63-64页 |
| 4.4.2 手持式打钉机概念设计缺陷分析 | 第64-67页 |
| 4.5 本章总结 | 第67-69页 |
| 第5章 设计缺陷的控制管理研究 | 第69-78页 |
| 5.1 设计缺陷的控制过程 | 第69-72页 |
| 5.1.1 设计缺陷的控制管理模式 | 第69-70页 |
| 5.1.2 设计缺陷控制的体系结构 | 第70-71页 |
| 5.1.3 设计缺陷管理功能层次 | 第71-72页 |
| 5.2 设计缺陷控制方法分析 | 第72-74页 |
| 5.2.1 设计缺陷控制类型 | 第72-73页 |
| 5.2.2 设计缺陷的一般性控制措施 | 第73-74页 |
| 5.3 基于设计活动关联性的设计缺陷控制方法 | 第74-77页 |
| 5.3.1 设计缺陷控制的关联性类型 | 第74-75页 |
| 5.3.2 不同关联性的设计缺陷控制分析 | 第75-76页 |
| 5.3.3 基于不同关联性的设计缺陷控制管理的措施 | 第76-77页 |
| 5.4 本章总结 | 第77-78页 |
| 第6章 结论与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 结论 | 第78-79页 |
| 6.2 展望 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第84页 |