| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·半导体存储器及其单粒子效应 | 第7-10页 |
| ·通用存储器SEU、SEL测试技术研究的必要性 | 第10-11页 |
| ·国内外研究状况 | 第11-16页 |
| ·国外研究状况 | 第11-12页 |
| ·国内研究状况 | 第12-16页 |
| ·论文的主要工作 | 第16-17页 |
| 第二章 系统设计原理 | 第17-21页 |
| ·系统设计思想 | 第17-18页 |
| ·系统设计目标 | 第18-21页 |
| 第三章 系统设计 | 第21-43页 |
| ·系统介绍 | 第21-22页 |
| ·系统硬件部分设计 | 第22-30页 |
| ·自动电源设计 | 第22-24页 |
| ·测试版设计 | 第24-29页 |
| ·束流快门自动控制部分 | 第29-30页 |
| ·系统软件部分设计 | 第30-43页 |
| ·系统并行结构 | 第30-31页 |
| ·系统流程 | 第31-43页 |
| 第四章 系统验证 | 第43-49页 |
| ·系统验证方法 | 第43页 |
| ·实验设备选择 | 第43-45页 |
| ·实验布局 | 第45-46页 |
| ·实验结果及分析 | 第46-47页 |
| ·结论 | 第47-49页 |
| 第五章 系统展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |