首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--理论论文

三维集成电路硅通孔匹配和倒装芯片布线算法研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第9-20页
    1. 研究背景第9-13页
    2. 关键技术与发展现状第13-17页
    3. 论文的研究工作和主要贡献第17-18页
    4. 论文组织结构第18-20页
第二章 硅通孔匹配技术回顾第20-27页
    1. 硅通孔匹配技术背景第20-21页
    2. 已有匹配算法回顾第21-26页
        2.1. 两层芯片硅通孔匹配问题第22-24页
        2.2. 多层芯片硅通孔匹配问题第24-26页
    3. 本章小结第26-27页
第三章 硅通孔匹配模型与算法第27-60页
    1. 引言第27页
    2. 硅通孔匹配建模第27-33页
        2.1. 基本假设第27-28页
        2.2. 物理模型描述第28-30页
        2.3. 数学形式表述第30-33页
    3. NP完全问题的证明第33-37页
        3.1. 布尔可满足性问题第33-34页
        3.2. 不可解性证明第34-37页
    4. 求解过程描述第37-53页
        4.1. 最短路径搜索第38-40页
        4.2. 二分匹配解决桥接竞争第40-45页
        4.3. 最小费用最大流解决浮动线网匹配问题第45-47页
        4.4. 硅通孔匹配问题的后处理第47-51页
        4.5. 处理多端口三维线网第51-53页
    5. 实验结果与分析第53-59页
        5.1. 文献与本文工作比较第54-55页
        5.2. 贪婪算法与本文工作比较第55-57页
        5.3. SBMP与SBMI的比较第57页
        5.4. SBM的启发式加速第57-58页
        5.5. 硅通孔匹配实例第58-59页
    6. 本章小结第59-60页
第四章 倒装芯片布线技术回顾第60-70页
    1. 倒装芯片布线技术第60页
    2. 已有布线算法回顾第60-69页
        2.1. 自由分配布线问题(Free-Assignment)第61-65页
        2.2. 预先分配布线问题(Pre-Assignment)第65-68页
        2.3. 混合分配布线问题第68-69页
    3. 本章小结第69-70页
第五章 倒装芯片布线模型与算法第70-92页
    1. 引言第70页
    2. 倒装芯片布线建模第70-72页
        2.1. 基本假设第70-71页
        2.2. 物理模型描述第71-72页
    3. 求解过程描述第72-89页
        3.1. 全局布线第73-83页
        3.2. 轨迹匹配第83-86页
        3.3. 算法扩展第86-89页
    4. 实验结果与分析第89-91页
    5. 本章小结第91-92页
第六章 结论与展望第92-94页
    1. 论文工作总结第92-93页
    2. 未来展望第93-94页
参考文献第94-102页
已发表论文和已申请专利第102-103页
    已发表论文列表(第一作者)第102-103页
致谢第103-104页

论文共104页,点击 下载论文
上一篇:概率数据检索、挖掘及多层文本分类问题的研究
下一篇:周边近视性离焦对儿童和小鸡光学离焦性近视模型的影响