图形处理芯片的研究与设计验证
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
1 引论 | 第13-20页 |
1.1 课题来源及研究背景 | 第13-14页 |
1.2 国内外相关技术发展现状 | 第14-17页 |
1.2.1 国外图形处理器研究现状 | 第14-17页 |
1.2.2 国内图形处理器研究现状 | 第17页 |
1.3 论文主要工作 | 第17-18页 |
1.4 论文内容安排 | 第18-20页 |
2 图形图像系统基础 | 第20-27页 |
2.1 光栅图形 | 第20-22页 |
2.1.1 像素与图形 | 第20-21页 |
2.1.2 光栅图形操作 | 第21-22页 |
2.2 光栅扫描显示系统 | 第22-24页 |
2.3 基于HARVA 的光栅图形系统 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-27页 |
3 芯片的体系结构及接口模块设计 | 第27-43页 |
3.1 总体结构 | 第27-31页 |
3.1.1 系统结构 | 第27-28页 |
3.1.2 内部结构 | 第28-31页 |
3.2 IO 端口 | 第31-36页 |
3.3 存储空间映射 | 第36-37页 |
3.4 接口模块设计 | 第37-41页 |
3.4.1 主机接口模块 | 第37-38页 |
3.4.2 局部存储器接口模块 | 第38-39页 |
3.4.3 视频时序接口模块 | 第39-41页 |
3.5 本章小结 | 第41-43页 |
4 仿真环境的搭建 | 第43-57页 |
4.1 仿真工具选择 | 第44-46页 |
4.2 仿真环境建立 | 第46-55页 |
4.2.1 工作目录的层次 | 第46-48页 |
4.2.2 Verilog 功能仿真模型建立 | 第48-51页 |
4.2.3 测试平台的编写 | 第51-54页 |
4.2.4 编译器使用方法 | 第54-55页 |
4.3 仿真环境运行 | 第55-56页 |
4.4 本章小结 | 第56-57页 |
5 芯片的功能验证 | 第57-76页 |
5.1 功能验证简介 | 第57-66页 |
5.1.1 概述 | 第57-59页 |
5.1.2 验证方法的分类 | 第59-62页 |
5.1.3 自检测的验证策略 | 第62-66页 |
5.2 芯片的指令系统 | 第66-69页 |
5.3 验证计划 | 第69-73页 |
5.4 验证代码与覆盖率 | 第73-75页 |
5.5 本章小结 | 第75-76页 |
6 结论 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第83-84页 |