| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 贮存加速试验的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 基于性能退化数据的寿命预测研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.3 航天继电器贮存试验及寿命预测研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 航天继电器贮存失效机理分析 | 第16-28页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 航天继电器常见贮存失效机理 | 第16-23页 |
| 2.2.1 继电器触头表面腐蚀失效 | 第16-20页 |
| 2.2.2 继电器簧片反力减小失效 | 第20-23页 |
| 2.3 航天继电器贮存失效表征参数及可靠性建模 | 第23-27页 |
| 2.3.1 继电器贮存失效表征参数 | 第23-24页 |
| 2.3.2 基于触点腐蚀失效的接触电阻退化模型 | 第24-26页 |
| 2.3.3 基于簧片反力减小失效的吸合时间退化模型 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 航天继电器贮存加速试验 | 第28-36页 |
| 3.1 引言 | 第28页 |
| 3.2 航天继电器贮存加速试验方案 | 第28-30页 |
| 3.3 航天继电器贮存加速试验的假设 | 第30-31页 |
| 3.4 航天继电器贮存加速试验结果及分析 | 第31-35页 |
| 3.4.1 接触电阻变化规律 | 第31-32页 |
| 3.4.2 吸合时间变化规律 | 第32-33页 |
| 3.4.3 接触电阻与吸合时间相关性 | 第33-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 航天继电器贮存寿命预测与评估 | 第36-53页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 基于退化轨迹的继电器贮存寿命预测方法 | 第36-43页 |
| 4.2.1 小波去噪的退化数据预处理 | 第36-38页 |
| 4.2.2 退化轨迹回归的寿命预测 | 第38-40页 |
| 4.2.3 失效物理模型的寿命预测 | 第40-41页 |
| 4.2.4 航天继电器基于退化轨迹的寿命预测 | 第41-43页 |
| 4.3 基于随机过程的继电器贮存寿命预测方法 | 第43-46页 |
| 4.3.1 Gamma 随机过程的基本含义 | 第43-44页 |
| 4.3.2 Gamma 过程退化失效建模及预测 | 第44-45页 |
| 4.3.3 航天继电器基于 Gamma 过程的寿命预测 | 第45-46页 |
| 4.4 航天继电器贮存加速模型 | 第46-52页 |
| 4.4.1 加速模型的一般形式 | 第46-47页 |
| 4.4.2 航天继电器的 Weibull-Arrhenius 模型 | 第47-50页 |
| 4.4.3 加速寿命置信区间的 bootstrap 估计方法 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 航天继电器贮存加速试验分析系统 | 第53-61页 |
| 5.1 引言 | 第53页 |
| 5.2 系统总体方案设计 | 第53-54页 |
| 5.2.1 主要技术指标 | 第53页 |
| 5.2.2 系统总体方案设计 | 第53-54页 |
| 5.3 系统硬件设计 | 第54-58页 |
| 5.3.1 接触电阻测试模块 | 第54-56页 |
| 5.3.2 吸合时间测试模块 | 第56-57页 |
| 5.3.3 切换电路 | 第57-58页 |
| 5.4 系统软件设计 | 第58-59页 |
| 5.4.1 下位机软件设计 | 第58页 |
| 5.4.2 上位机软件设计 | 第58-59页 |
| 5.5 测量结果 | 第59-60页 |
| 5.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 附录 | 第68-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
