基于ZYNQ的RFID测试板卡设计验证
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 论文研究背景 | 第10-13页 |
| 1.1.1 RFID技术概述 | 第10-11页 |
| 1.1.2 RFID技术现状 | 第11-13页 |
| 1.1.3 RFID测试需求 | 第13页 |
| 1.2 论文课题来源及意义 | 第13-14页 |
| 1.3 本文内容及安排 | 第14-15页 |
| 第2章 RFID测试系统 | 第15-21页 |
| 2.1 RFID技术分类及标准 | 第15-17页 |
| 2.2 RFID测试概述 | 第17-18页 |
| 2.3 本文测试系统结构 | 第18-21页 |
| 第3章 RFID测试板卡设计 | 第21-46页 |
| 3.1 选择设计方案 | 第21-32页 |
| 3.1.1 专用芯片方案 | 第21-22页 |
| 3.1.2 ARM核心设计方案 | 第22-27页 |
| 3.1.3 FPGA核心设计方案 | 第27-30页 |
| 3.1.4 ZYNQ软件无线电方案 | 第30-31页 |
| 3.1.5 总结并选定方案 | 第31-32页 |
| 3.2 板卡电路框架 | 第32-34页 |
| 3.3 ZYNQ数字部分设计 | 第34-37页 |
| 3.4 电源域设计 | 第37-39页 |
| 3.5 模拟收发通道 | 第39-46页 |
| 3.5.1 时钟域设计 | 第39-41页 |
| 3.5.2 数模转换及正交调制 | 第41页 |
| 3.5.3 功率放大器设计 | 第41-43页 |
| 3.5.4 程控衰减及LNA设计 | 第43-44页 |
| 3.5.5 正交解调及数字化 | 第44-46页 |
| 第4章 RFID测试天线设计 | 第46-70页 |
| 4.1 本章概述 | 第46-49页 |
| 4.2 匹配网络分析 | 第49-52页 |
| 4.3 高频天线 | 第52-61页 |
| 4.3.1 高频天线模型 | 第52-56页 |
| 4.3.2 高频天线控制系统 | 第56-58页 |
| 4.3.3 高频天线模拟系统 | 第58-61页 |
| 4.4 超高频天线 | 第61-70页 |
| 4.4.1 超高频天线介绍 | 第61-63页 |
| 4.4.2 超高频天线设计 | 第63-70页 |
| 第5章 ZYNQ平台程序设计验证 | 第70-80页 |
| 5.1 ZYNQ平台体系结构 | 第70-71页 |
| 5.2 VHDL硬件程序设计验证 | 第71-76页 |
| 5.2.1 VHDL程序结构 | 第71-73页 |
| 5.2.2 FPGA收发部分 | 第73-76页 |
| 5.3 FPGA嵌入式软件设计验证 | 第76-80页 |
| 第6章 总结 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 攻读硕士期间科研成果及参与项目 | 第86-87页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第87页 |
