| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-27页 |
| 1.1 课题背景与研究意义 | 第13-16页 |
| 1.1.1 高频电力变压器的发展概况 | 第13-15页 |
| 1.1.2 高频电力变压器所面临的绝缘问题 | 第15-16页 |
| 1.2 高频绝缘领域研究进展与技术难点 | 第16-25页 |
| 1.2.1 多因子作用下的局部放电特性 | 第16-19页 |
| 1.2.2 放电缺陷演化规律 | 第19-23页 |
| 1.2.3 绝缘热解微观机理及表征 | 第23-25页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第25-27页 |
| 第二章 高频电热联合测试系统设计 | 第27-38页 |
| 2.1 高频电热联合实验平台 | 第27-29页 |
| 2.1.1 高频高压正弦电源 | 第27-28页 |
| 2.1.2 电热联合老化箱体设计 | 第28-29页 |
| 2.2 高频电压下放电信号的采集 | 第29-32页 |
| 2.2.1 电流传感器优选 | 第29-31页 |
| 2.2.2 放电数据采集 | 第31-32页 |
| 2.3 放电数据处理 | 第32-37页 |
| 2.3.1 基于Symlets小波8层分解的降噪技术 | 第32-34页 |
| 2.3.2 信号开窗与统计分析 | 第34-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 频变电-热应力对PI局部放电特性的影响 | 第38-57页 |
| 3.1 实验设置及预处理 | 第38-39页 |
| 3.2 常温下频变效应对局部放电的影响 | 第39-44页 |
| 3.2.1 频变效应对放电模式的影响 | 第39-42页 |
| 3.2.2 频变效应对放电参量的影响 | 第42-44页 |
| 3.3 频率-温度耦合作用对局部放电的影响 | 第44-47页 |
| 3.3.1 频率-温度耦合作用下的局部放电模式变化 | 第44-45页 |
| 3.3.2 频率温度耦合作用下的局部放电参量的统计 | 第45-47页 |
| 3.4 频变电-热应力对局部放电特性的影响机理 | 第47-56页 |
| 3.4.1 频变电-热应力下的初始电子发生机制 | 第48页 |
| 3.4.2 频变电-热应力对空间电荷积聚/耗散的作用机理 | 第48-53页 |
| 3.4.3 PI介电谱特性与热积聚作用 | 第53-56页 |
| 3.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 频变电-热应力作用下PI绝缘沿面放电的演化规律 | 第57-83页 |
| 4.1 实验设置及预处理 | 第57-59页 |
| 4.2 常温下沿面放电模式演化规律 | 第59-63页 |
| 4.2.1 频变效应对沿面放电模式的影响 | 第59-62页 |
| 4.2.2 不同发展时期放电模式对比 | 第62-63页 |
| 4.3 频变效应下的沿面放电严重程度诊断 | 第63-70页 |
| 4.3.1 放电特征参量统计规律 | 第63-65页 |
| 4.3.2 基于无量纲参量的放电严重程度诊断方法 | 第65-70页 |
| 4.4 频率-温度耦合作用对沿面放电发展过程的影响 | 第70-74页 |
| 4.4.1 高温下绝缘放电模式的演化 | 第70-72页 |
| 4.4.2 高温下放电参量的统计特征 | 第72-74页 |
| 4.5 频变电-热应力对PI绝缘沿面放电的影响机理 | 第74-82页 |
| 4.5.1 理想状态下的沿面放电发展过程 | 第74-75页 |
| 4.5.2 频变效应下的沿面放电发展过程分析 | 第75-80页 |
| 4.5.3 温度对高频绝缘沿面放电的作用机制 | 第80-82页 |
| 4.6 本章小结 | 第82-83页 |
| 第五章 高频致热作用下PI裂解过程的反应分子动力学模拟 | 第83-100页 |
| 5.1 PI高温裂解过程的反应分子动力学模拟方法 | 第83-86页 |
| 5.1.1 ReaxFF力场计算原理 | 第83-84页 |
| 5.1.2 PI分子模型体系构建 | 第84-85页 |
| 5.1.3 裂解过程预模拟与体系参数优化 | 第85-86页 |
| 5.2 PI高温裂解规律与过程 | 第86-91页 |
| 5.2.1 PI初始裂解规律分析 | 第86-88页 |
| 5.2.2 PI微观裂解动态过程分析 | 第88-91页 |
| 5.3 PI高温裂解主要产物的生成机理 | 第91-95页 |
| 5.3.1 CO_2分子生成机理 | 第91-93页 |
| 5.3.2 CN分子生成机理 | 第93-95页 |
| 5.4 PI高温裂解的物理表征 | 第95-98页 |
| 5.4.1 PI裂解对表面形貌及局部放电的影响 | 第95-97页 |
| 5.4.2 热击穿点的表面形貌 | 第97-98页 |
| 5.5 本章小结 | 第98-100页 |
| 第六章 结论与展望 | 第100-103页 |
| 6.1 结论 | 第100-101页 |
| 6.2 展望 | 第101-103页 |
| 参考文献 | 第103-115页 |
| 致谢 | 第115-116页 |
| 攻读博士学位期间取得的科研成果及主持和参加的科研项目 | 第116-118页 |
| 附件 | 第118页 |
