| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-11页 |
| 1.2 三维测距技术的介绍 | 第11-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第13页 |
| 1.3 本文的研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 TOF基本原理 | 第15-33页 |
| 2.1 光学测距方法介绍 | 第15-19页 |
| 2.1.1 三角法 | 第15-17页 |
| 2.1.2 干涉法 | 第17-18页 |
| 2.1.3 Time-of- flight (TOF) | 第18页 |
| 2.1.4 光学测距方法的对比 | 第18-19页 |
| 2.2 TOF测距原理 | 第19-21页 |
| 2.2.1 脉冲调制技术 | 第20-21页 |
| 2.2.2 伪噪声调制技术 | 第21页 |
| 2.2.3 连续波调制技术 | 第21页 |
| 2.3 SPAD相位解调技术原理 | 第21-32页 |
| 2.3.1 采样和解调 | 第22-26页 |
| 2.3.2 SPAD相位解调技术 | 第26-28页 |
| 2.3.3 测距分辨率与误差分析 | 第28-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 单光子雪崩二极管设计 | 第33-43页 |
| 3.1 SPAD基本原理 | 第33-37页 |
| 3.1.1 概述 | 第33-34页 |
| 3.1.2 基本理论 | 第34-36页 |
| 3.1.3 性能参数 | 第36-37页 |
| 3.2 SPAD设计与分析 | 第37-42页 |
| 3.2.1 SPAD技术介绍 | 第37-39页 |
| 3.2.2 SPAD设计与分析 | 第39-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 SPAD相位解调芯片设计 | 第43-55页 |
| 4.1 SPAD淬灭与再充电电路设计 | 第43-49页 |
| 4.1.1 淬灭和再充电电路介绍 | 第43-44页 |
| 4.1.2 单管被动淬灭和再充电电路 | 第44-46页 |
| 4.1.3 被动淬灭和主动再充电电路设计 | 第46-49页 |
| 4.2 SPAD像素电路设计与分析 | 第49-51页 |
| 4.2.1 像素电路分析 | 第49-50页 |
| 4.2.2 像素电路设计实现 | 第50-51页 |
| 4.3 SPAD相位解调芯片设计 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 总结与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 论文总结 | 第55-56页 |
| 5.2 研究展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 个人简历 | 第62-63页 |
| 在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第63页 |