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基于CMOS图像传感器的高分辨率航天推帚成像光谱仪信息获取技术研究

致谢第1-5页
摘要第5-7页
ABSTRACT第7-12页
第1章 绪论第12-26页
   ·高光谱成像技术概述第12-13页
   ·典型航天推帚高光谱成像仪的工作原理第13-15页
   ·航天高光谱成像技术的发展第15-20页
   ·航天高光谱成像仪的两大未来发展趋势第20-21页
   ·高分辨率航天推帚光谱成像技术的挑战与局限第21-23页
   ·高性能信息获取系统的技术瓶颈与本课题的研究内容第23-26页
第2章 基于 CMOS 器件的探测器匹配技术研究第26-88页
   ·高光谱成像系统中探测器及信息获取系统的设计思路第26-28页
     ·以往国内航天高光谱成像仪器的设计方法第26-27页
     ·合理的航天高光谱成像仪及其信息获取系统的设计思路第27-28页
   ·CMOS 探测器用于高光谱成像仪的优劣分析第28-34页
     ·CCD 探测器在高分辨率成像光谱仪中应用的局限第28-31页
     ·CMOS 探测器的应用优势第31-32页
     ·CMOS 探测器应用于高分辨率光谱成像需要研究的问题第32-34页
   ·信噪比模型分析第34-42页
     ·经典信噪比模型第34-36页
     ·大气散射对系统成像性能的影响第36-39页
     ·仪器信噪比模型与图像信噪比模型第39-42页
   ·高灵敏度 CMOS 探测器匹配设计研究第42-61页
     ·提升探测器灵敏度的核心思路第42-44页
     ·高分辨率光谱成像系统所需的动态范围分析第44-47页
     ·CMOS 探测器高增益设计与填充因子的矛盾分析第47-54页
     ·高灵敏度 CMOS 探测器的优化设计第54-57页
     ·采用优化设计的 CMOS 探测器灵敏度提升效果估算第57-59页
     ·等效电荷增益测试技术研究第59-61页
   ·CMOS 探测器波段可变增益的特殊工作模式研究第61-68页
     ·成像光谱仪的低能量光谱区域第61-62页
     ·提升低能量区域响应的 CMOS 探测器工作模式特殊设计研究第62-65页
     ·新工作模式对探测器性能的影响分析第65-66页
     ·其他波段可变增益解决方法研究第66-68页
   ·适于光谱成像的 CMOS 探测器曝光方式研究与试验第68-73页
     ·CMOS 探测器的两种典型曝光方式第68-70页
     ·高分辨率成像光谱仪适用的曝光方式分析第70-71页
     ·曝光方式试验第71-73页
   ·CMOS 探测器非均匀性特征分析和校正技术研究第73-79页
     ·CMOS 探测器非均匀性特征分析第73-77页
     ·适于航天环境的非均匀校正技术研究第77-79页
   ·基于 CMOS 探测器的可编程光谱成像技术初步研究第79-83页
   ·适于 CMOS 探测器的小型化在轨光谱定标方法设想第83-86页
   ·本章小结第86-88页
第3章 高性能信息获取系统实现技术研究第88-114页
   ·信息获取系统关键技术分解第88页
   ·适于光谱成像系统的高性能 CMOS 探测器设计与研发思路第88-90页
   ·各阶段探测器的核心参数设计与测试结果分析第90-100页
     ·各阶段探测器研制过程与核心参数测试第90-95页
     ·高灵敏度探测器性能测试结果分析第95-97页
     ·CMOS 探测器仍然存在的问题分析第97-100页
   ·信息获取系统匹配与降噪特殊设计研究第100-109页
     ·信息采集电子学总体框架第100-101页
     ·噪声源分析第101-102页
     ·探测器接口匹配特殊设计研究第102-104页
     ·低噪声偏压供给改进分析第104-105页
     ·CMOS 探测器匹配电路集成化布局研究第105-109页
     ·低噪声信息获取电路测试与分析第109页
   ·数据传输方案分析、设计与应用第109-112页
   ·图像预处理软件的设计与应用第112-113页
   ·本章小结第113-114页
第4章 系统搭建与综合成像试验第114-126页
   ·成像试验的分类第114页
   ·全色外景成像试验与高速目标成像试验第114-116页
     ·全帧外景成像试验第114-115页
     ·高速目标成像试验第115-116页
   ·高光谱外景成像试验第116-121页
   ·多光谱成像试验第121-126页
第5章 总结与展望第126-128页
参考文献第128-132页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第132-133页

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