| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·前言 | 第9-10页 |
| ·红外焦平面组件简介 | 第10-12页 |
| ·红外焦平面组件分类 | 第10-11页 |
| ·红外焦平面的发展趋势 | 第11-12页 |
| ·红外探测器简介 | 第12-13页 |
| ·热探测器 | 第12-13页 |
| ·光子探测器 | 第13页 |
| ·红外焦平面阵列读出集成电路简介 | 第13-15页 |
| ·CCD 读出集成电路 | 第14页 |
| ·CMOS 读出集成电路 | 第14-15页 |
| ·论文的研究内容、选题意义和主要创新点 | 第15-18页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第15-16页 |
| ·课题研究的意义 | 第16-17页 |
| ·主要创新点 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 读出信号处理电路阵列架构研究 | 第19-65页 |
| ·红外焦平面阵列读出电路性能指标分析 | 第19-20页 |
| ·读出动态范围 | 第19页 |
| ·读出信噪比 | 第19-20页 |
| ·读出速率、积分时间和功耗 | 第20页 |
| ·阵列规模和电路面积 | 第20页 |
| ·工作温度 | 第20页 |
| ·常用读出信号处理电路阵列架构简介 | 第20-24页 |
| ·芯片级ADC 读出电路阵列架构 | 第20-22页 |
| ·列（行）级ADC 读出电路阵列架构 | 第22-23页 |
| ·像素级ADC 读出电路阵列架构 | 第23-24页 |
| ·基于编码调制的模拟读出电路阵列架构 | 第24-32页 |
| ·编码调制读出电路设计原理 | 第25-28页 |
| ·基于编码调制读出电路设计实现 | 第28-32页 |
| ·基于编码调制读出电路架构的性能分析 | 第32页 |
| ·基于电流- 频率转换的数字化读出电路阵列架构 | 第32-43页 |
| ·基于电流控制振荡器的数字化读出电路架构 | 第33-35页 |
| ·电流控制振荡器的设计 | 第35-38页 |
| ·计数器的设计 | 第38-41页 |
| ·基于电流控制振荡器读出电路架构的仿真结果及分析 | 第41-43页 |
| ·基于比较器编码的数字化读出电路架构 | 第43-64页 |
| ·基于比较器编码的数字化读出电路架构设计 | 第44-48页 |
| ·比较器的设计 | 第48-56页 |
| ·延迟单元电路和缓冲输出电路设计分析 | 第56-58页 |
| ·基于比较器的读出电路架构性能分析 | 第58-60页 |
| ·基于比较器编码的数字化读出电路架构仿真结果 | 第60-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第三章 前端读出电路单元研究 | 第65-98页 |
| ·CMOS 读出电路单元的性能指标分析 | 第65-69页 |
| ·探测器偏置电压分析 | 第66-67页 |
| ·读出电路动态范围的分析 | 第67页 |
| ·读出电路注入效率的分析 | 第67-68页 |
| ·读出电路的电量存储能力 | 第68页 |
| ·读出电路面积和功耗分析 | 第68-69页 |
| ·常用的读出电路单元分析 | 第69-76页 |
| ·基于自偏置电流镜的读出电路单元 | 第76-92页 |
| ·基于自偏置电流镜读出电路单元结构分析 | 第76-79页 |
| ·基于自偏置电流镜读出电路单元噪声分析 | 第79-89页 |
| ·基于自偏置电流镜读出电路单元注入效率分析 | 第89-90页 |
| ·基于自偏置电流镜读出电路单元探测器偏置电压分析 | 第90-91页 |
| ·基于自偏置电流镜读出电路单元动态范围分析 | 第91-92页 |
| ·读出电路单元中相关双采样模块设计 | 第92-93页 |
| ·基于自偏置电流镜的读出电路单元仿真结果 | 第93-96页 |
| ·本章小结 | 第96-98页 |
| 第四章 背景电流和暗电流抑制技术研究 | 第98-117页 |
| ·红外探测器背景电流和暗电流分析 | 第98页 |
| ·红外探测器背景电流分析 | 第98页 |
| ·红外探测器暗电流分析 | 第98页 |
| ·常用的背景电流和暗电流消除技术分析 | 第98-104页 |
| ·基于电流存储的背景电流和暗电流抑制技术分析 | 第99-103页 |
| ·电压-电流转换法BDS 电路 | 第103-104页 |
| ·具有抗电源波动影响的室温BDS 电路设计 | 第104-116页 |
| ·室温应用的基于电压-电流转换BDS 温度稳定性分析 | 第106-110页 |
| ·室温应用基于电压-电流转换BDS 电源电压稳定性分析 | 第110-113页 |
| ·室温应用的基于电压-电流转换BDS 电路仿真结果及分析. | 第113-116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 第五章 版图设计及测试 | 第117-145页 |
| ·CMOS 模拟集成电路版图设计 | 第117-119页 |
| ·CMOS 集成电路工艺简介 | 第117-118页 |
| ·CMOS 集成电路版图设计规则 | 第118-119页 |
| ·前端读出电路单元版图设计及仿真测试结果分析 | 第119-129页 |
| ·前端读出电路单元版图设计 | 第119-122页 |
| ·前端读出电路单元后仿真和测试结果 | 第122-128页 |
| ·前端读出电路单元测试结果分析 | 第128-129页 |
| ·背景电流和暗电流抑制电路版图设计及仿真测试结果 | 第129-136页 |
| ·背景电流和暗电流抑制电路版图设计 | 第129-131页 |
| ·背景电流和暗电流抑制电路后仿真和测试结果 | 第131-135页 |
| ·背景电流和暗电流抑制电路测试结果分析 | 第135-136页 |
| ·基于比较器编码的读出电路阵列版图设计和后仿真结果分析 | 第136-144页 |
| ·比较器模块的版图设计和仿真结果分析 | 第136-139页 |
| ·基于比较器编码的读出电路阵列版图设计 | 第139-142页 |
| ·基于比较器编码读出电路架构后仿真结果及分析 | 第142-144页 |
| ·本章小结 | 第144-145页 |
| 第六章 总结与展望 | 第145-148页 |
| ·全文总结 | 第145-146页 |
| ·进一步工作展望 | 第146-148页 |
| 参考文献 | 第148-155页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第155-156页 |
| 致谢 | 第156页 |
