航天图像压缩芯片的抗辐照设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·集成电路抗辐照研究历史和现状 | 第8-9页 |
| ·本文内容安排 | 第9-11页 |
| 第二章 集成电路抗辐照分析 | 第11-25页 |
| ·JPEG2000 算法简介 | 第11-13页 |
| ·单粒子效应简介 | 第13-19页 |
| ·空间辐射环境 | 第13-14页 |
| ·单粒子效应机理 | 第14-17页 |
| ·单粒子效应加固 | 第17-19页 |
| ·单粒子效应评估 | 第19-23页 |
| ·常见单粒子效应评估方法 | 第19-21页 |
| ·压缩芯片单粒子翻转仿真原理 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 压缩芯片的抗辐照设计 | 第25-43页 |
| ·芯片抗辐照设计简介 | 第25-26页 |
| ·单帧独立处理方法 | 第26-32页 |
| ·单帧独立简介 | 第26页 |
| ·同步处理 | 第26-28页 |
| ·粒度分析 | 第28-30页 |
| ·示例说明 | 第30-32页 |
| ·超时检测处理方法 | 第32-35页 |
| ·超时检测简介 | 第32页 |
| ·计数器翻转分析 | 第32-33页 |
| ·示例说明 | 第33-35页 |
| ·冗余保护处理方法 | 第35-41页 |
| ·冗余保护简介 | 第35-37页 |
| ·编译码电路实现 | 第37-39页 |
| ·性能比较 | 第39-40页 |
| ·示例说明 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 压缩芯片的抗辐照验证 | 第43-69页 |
| ·单粒子翻转仿真简介 | 第43-45页 |
| ·单粒子翻转仿真实现 | 第45-51页 |
| ·翻转向量生成模块 | 第45-49页 |
| ·VPI 函数实现模块 | 第49-50页 |
| ·测试平台调用模块 | 第50-51页 |
| ·单粒子翻转仿真分析 | 第51-67页 |
| ·单帧独立实验 | 第51-56页 |
| ·超时检测实验 | 第56-59页 |
| ·冗余保护实验 | 第59-63页 |
| ·芯片整体仿真实验 | 第63-66页 |
| ·芯片整体单粒子实测 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第五章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 研究成果 | 第77-78页 |
