基于近似熵分析和小波变换的IGBT模块键合线故障特征分析
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| ·IGBT 模块可靠性研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-16页 |
| ·IGBT 模块在可靠性衰退方面的研究 | 第10页 |
| ·IGBT 模块键合线可靠性研究现状 | 第10-16页 |
| ·主要研究内容及思路 | 第16-18页 |
| 2 IGBT 模块及键合线故障分析 | 第18-35页 |
| ·IGBT 的基本结构和工作原理 | 第18-21页 |
| ·IGBT 的基本结构 | 第18-20页 |
| ·IGBT 的工作原理 | 第20-21页 |
| ·IGBT 故障因素 | 第21-25页 |
| ·IGBT 的擎住效应 | 第21-22页 |
| ·IGBT 的安全工作区 | 第22-23页 |
| ·IGBT 的故障类型 | 第23-25页 |
| ·IGBT 模块的结构 | 第25-26页 |
| ·IGBT 模块的失效性分析 | 第26-28页 |
| ·与封装有关的失效 | 第27页 |
| ·与芯片有关的失效 | 第27-28页 |
| ·IGBT 模块键合线故障影响分析 | 第28-30页 |
| ·IGBT 模块栅极等效电路 | 第28页 |
| ·IGBT 模块关断过程的特性分析 | 第28-30页 |
| ·实验测试 | 第30-34页 |
| ·总结 | 第34-35页 |
| 3 基于近似熵理论的键合线故障分析 | 第35-43页 |
| ·近似熵理论介绍 | 第35-37页 |
| ·近似熵算法定义 | 第35-36页 |
| ·近似熵算法的含义及特征 | 第36-37页 |
| ·近似熵算法的局限性 | 第37页 |
| ·近似熵算法特性的仿真 | 第37-39页 |
| ·近似熵在键合线故障诊断中的应用 | 第39-42页 |
| ·总结 | 第42-43页 |
| 4 基于小波奇异熵理论的键合线故障分析 | 第43-56页 |
| ·基于小波变换的故障信号分析 | 第43-48页 |
| ·小波分析 | 第43-45页 |
| ·常用小波函数 | 第45-47页 |
| ·故障信号的小波变换分解 | 第47-48页 |
| ·基于奇异值分解的故障特征提取 | 第48-51页 |
| ·奇异值分解 | 第48-50页 |
| ·奇异值分解提取故障特征 | 第50-51页 |
| ·基于小波奇异熵理论的故障特征提取 | 第51-55页 |
| ·信息熵 | 第51-52页 |
| ·小波奇异熵 | 第52-53页 |
| ·小波奇异熵提取故障特征 | 第53-55页 |
| ·本章总结 | 第55-56页 |
| 5 结论与展望 | 第56-57页 |
| ·论文工作总结 | 第56页 |
| ·后续研究工作的展望 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 附录 | 第62页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第62页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第62页 |
