| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| Contents | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| ·可拓检测技术概述 | 第15-17页 |
| ·检测技术中遇到的问题 | 第15-16页 |
| ·可拓检测技术的意义 | 第16-17页 |
| ·可拓检测的发展概况 | 第17-20页 |
| ·检测技术的发展现状 | 第17-19页 |
| ·可拓检测的产生 | 第19页 |
| ·可拓检测的国内外现状 | 第19-20页 |
| ·可拓检测的关键内容 | 第20-21页 |
| ·可拓检测的基本思想 | 第20页 |
| ·可拓检测的作用机理 | 第20-21页 |
| ·本课题研究的创新点 | 第21页 |
| ·本课题研究的来源 | 第21-22页 |
| 第二章 可拓检测的基本原理 | 第22-40页 |
| ·可拓检测的概念及原理 | 第22-26页 |
| ·基本概念 | 第22-23页 |
| ·基本原理 | 第23-26页 |
| ·可测物元和不可测物元的相关变换 | 第26-29页 |
| ·受迫变换 | 第26-28页 |
| ·制约变换 | 第28-29页 |
| ·物元聚焦及结果判决显形 | 第29-31页 |
| ·检测任务的物元表示 | 第31页 |
| ·检测方案的数学表示—检测元 | 第31-33页 |
| ·检测元的定义 | 第31-32页 |
| ·检测元的品质计算 | 第32-33页 |
| ·检测元的评价工具—检测元可拓集 | 第33-34页 |
| ·检测方案生成方法 | 第34-37页 |
| ·分析检测任务 | 第34-35页 |
| ·用可拓树进行可拓变换及生成检测元 | 第35-36页 |
| ·拓集生成 | 第36页 |
| ·检测元优化与评价 | 第36-37页 |
| ·检测方案生成 | 第37页 |
| ·检测方案评价实例 | 第37-40页 |
| 第三章 利用可拓学方法挖掘检测信息 | 第40-55页 |
| ·挖掘检测信息面临的问题 | 第40页 |
| ·用可拓学方法挖掘检测信息 | 第40-50页 |
| ·噪声和异常数据 | 第40-44页 |
| ·高维 | 第44-45页 |
| ·多类型数据 | 第45-47页 |
| ·缺失数据 | 第47-50页 |
| ·应用物元可拓方法的约束条件 | 第50-55页 |
| ·优度约束 | 第50-53页 |
| ·真伪信息约束 | 第53页 |
| ·物元相容度约束 | 第53-54页 |
| ·应用物元可拓方法的约束条件 | 第54-55页 |
| 第四章 可拓检测中的可测物元及关键可测物元 | 第55-61页 |
| ·可测物元的定义 | 第55页 |
| ·可测物元的分类 | 第55-58页 |
| ·检测的难易 | 第55-57页 |
| ·可测物元的表示 | 第57页 |
| ·可测物元的置换 | 第57-58页 |
| ·关键可测物元的概念 | 第58页 |
| ·关键可测物元的属性 | 第58-59页 |
| ·关键可测物元举例 | 第59-61页 |
| 第五章 关键可测物元的判定及提取方法 | 第61-69页 |
| ·菱形思维方法 | 第61-63页 |
| ·一级菱形思维模型 | 第61-62页 |
| ·多级菱形思维模型 | 第62-63页 |
| ·生成检测元 | 第63-65页 |
| ·生成检测方案 | 第63-64页 |
| ·生成检测元 | 第64-65页 |
| ·判定关键可测物元 | 第65-67页 |
| ·关键可测物元的提取方法 | 第67-69页 |
| ·物元提取的方法 | 第67-68页 |
| ·关键可测物元的提取 | 第68-69页 |
| 第六章 关键可测物元的应用及验证 | 第69-75页 |
| ·提取物元 | 第69-70页 |
| ·分析锅内物元特征 | 第69-70页 |
| ·提取物元 | 第70页 |
| ·提取可测物元 | 第70页 |
| ·可测性分析 | 第70页 |
| ·提取可测物元 | 第70页 |
| ·判定关键可测物元 | 第70-72页 |
| ·分析可测物元的易测性、易表性、易换性和亲近性 | 第70-71页 |
| ·计算检测元的可测度、检测成本、可测度品质和成本品质 | 第71页 |
| ·判定检测元的拓集域 | 第71-72页 |
| ·判定关键可测物元 | 第72页 |
| ·应用关键可测物元 | 第72-73页 |
| ·关键可测物元的验证 | 第73-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 攻读研究生期间发表的论文 | 第81-82页 |
| 独创性声明 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |