基于FPGA的可测性设计方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·现场可编程门阵列 FPGA的概述 | 第10-13页 |
| ·FPGA的简介 | 第10-11页 |
| ·FPGA的发展动态 | 第11-13页 |
| ·数字系统故障测试技术的研究动态 | 第13-15页 |
| ·FPGA器件测试技术的发展现状 | 第15-17页 |
| ·课题的意义及本文的主要工作 | 第17-19页 |
| ·课题提出的背景及意义 | 第17-18页 |
| ·本文的主要工作 | 第18-19页 |
| 第2章 FPGA的典型的故障模型及测试技术 | 第19-27页 |
| ·FPGA中典型的故障模型 | 第19-21页 |
| ·固定型故障 | 第19-20页 |
| ·桥接故障 | 第20页 |
| ·暂态故障 | 第20-21页 |
| ·时滞故障 | 第21页 |
| ·FPGA中的测试技术 | 第21-26页 |
| ·逻辑资源的测试 | 第22-24页 |
| ·连线资源的测试 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 边界扫描测试基本理论与方法 | 第27-41页 |
| ·可测性设计技术基础 | 第27-29页 |
| ·边界扫描技术概述 | 第29-32页 |
| ·边界扫描技术简介 | 第29-30页 |
| ·边界扫描技术原理 | 第30-32页 |
| ·边界扫描测试基本原理 | 第32-40页 |
| ·基本技术概念及数学描述模型 | 第32-37页 |
| ·边界扫描测试方法研究现状 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 可测性设计优化算法 | 第41-63页 |
| ·测试优化问题概述 | 第41-48页 |
| ·故障诊断的紧凑性问题 | 第43-44页 |
| ·故障诊断的完备性问题 | 第44-47页 |
| ·测试向量集的构成策略 | 第47-48页 |
| ·边界扫描测试向量优化生成算法 | 第48-55页 |
| ·抗误判优化算法 | 第48-52页 |
| ·极小权值优化算法 | 第52-55页 |
| ·自适应完备诊断优化算法 | 第55-62页 |
| ·自适应完备诊断的主要思想 | 第55-56页 |
| ·现有自适应诊断算法的缺陷 | 第56-57页 |
| ·自适应诊断算法的优化 | 第57-60页 |
| ·改进后算法的性能分析 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 FPGA测试仿真模型的设计及算法验证 | 第63-75页 |
| ·应用边界扫描测试结构实现 FPGA测试 | 第63-65页 |
| ·FPGA测试的实现 | 第63-64页 |
| ·边界扫描测试的运行 | 第64-65页 |
| ·自适应完备诊断优化算法的验证 | 第65-73页 |
| ·测试仿真模型的设计 | 第66-72页 |
| ·应用测试仿真模型的算法验证 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
