| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要(ABSTRACT) | 第3-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·红外探测技术的发展概况 | 第8-10页 |
| ·红外探测器的发展概况 | 第8页 |
| ·红外焦平面阵列(IRFPA)的发展概况 | 第8-10页 |
| ·红外热成像技术的发展概况 | 第10-12页 |
| ·红外焦平面热成像技术的应用 | 第10-11页 |
| ·IRFPA技术的军用市场 | 第10-11页 |
| ·IRFPA技术的民用市场 | 第11页 |
| ·红外热成像技术的发展趋势 | 第11-12页 |
| ·红外非均匀性校正的发展概况 | 第12-13页 |
| ·本文的背景及主要内容 | 第13-15页 |
| 2 微测辐射热计特性研究 | 第15-24页 |
| ·微测辐射热计焦平面简介 | 第15-16页 |
| ·微测辐射热计热平衡方程的建立及求解 | 第16-19页 |
| ·微测辐射热计焦平面特性的评价指标 | 第19-21页 |
| ·SOFRADIR公司320×240微测辐射热计的性能介绍 | 第21-24页 |
| ·焦平面阵列描述 | 第21-22页 |
| ·焦平面阵列红外响应曲线 | 第22页 |
| ·硅读出集成电路(ROIC)描述 | 第22页 |
| ·微测辐射热计使用注意事项 | 第22-24页 |
| 3 微测辐射热计焦平面阵列驱动电路设计 | 第24-34页 |
| ·驱动电路的总体设计 | 第24-25页 |
| ·电源设计 | 第25-28页 |
| ·器件介绍 | 第25-26页 |
| ·MAX663 | 第25-26页 |
| ·MAX1658 | 第26页 |
| ·EPM7128AETC100 | 第26页 |
| ·电源电路设计 | 第26-28页 |
| ·时序信号设计 | 第28-31页 |
| ·主时钟(MC) | 第28-29页 |
| ·复位信号(RESET) | 第29页 |
| ·积分信号(INT) | 第29页 |
| ·增益1、增益2、增益3 | 第29页 |
| ·UFPA的输出信号及性能 | 第29-31页 |
| ·微测辐射热计输出的信号 | 第31-34页 |
| 4 微测辐射热计温控电路设计 | 第34-47页 |
| ·热电致冷(TEC)的原理 | 第34-38页 |
| ·热电效应 | 第34-36页 |
| ·基本热电偶的制冷特性 | 第36-38页 |
| ·TEC的工作原理 | 第38页 |
| ·温控电路的设计方案 | 第38-47页 |
| ·温度传感器(CTN) | 第38页 |
| ·焦平面TEC的控制方法 | 第38-40页 |
| ·TEC温控电路的设计 | 第40-47页 |
| ·TEC驱动控制芯片介绍 | 第40-42页 |
| ·TEC驱动控制原理 | 第42-43页 |
| ·PID控制算法与控制程序设计 | 第43-47页 |
| 5 微测辐射热计焦平面非均匀性校正技术研究 | 第47-69页 |
| ·微测辐射热计焦平面非均匀性产生的原因 | 第47-48页 |
| ·红外图像的非均匀性特征 | 第48-49页 |
| ·非均匀性校正算法研究 | 第49-55页 |
| ·温度定标校正算法 | 第50-53页 |
| ·一点温度定标算法 | 第50-51页 |
| ·两点温度定标算法 | 第51-52页 |
| ·多点温度定标分段算法 | 第52-53页 |
| ·高通滤波校正算法 | 第53-54页 |
| ·人工神经网络算法 | 第54-55页 |
| ·高频振动扫描算法 | 第55页 |
| ·非均匀性校正算法比较 | 第55-57页 |
| ·像素响应测试 | 第57-63页 |
| ·测试原理 | 第57-59页 |
| ·测试过程 | 第59-61页 |
| ·A/D采集卡调试 | 第61-63页 |
| ·两点定标校正算法的硬件实现与结果仿真 | 第63-69页 |
| ·两点定标非均匀性校正的实现 | 第63-64页 |
| ·校正仿真 | 第64页 |
| ·两点校正法的FPGA实现 | 第64-69页 |
| 6 结束语 | 第69-71页 |
| ·本论文的工作总结 | 第69页 |
| ·有待进一步进行的工作 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74页 |