| 第一章 图象传感器和象限传感器的发展与现状 | 第1-24页 |
| ·CMOS图象传感器的发展 | 第12-13页 |
| ·CMOS图象传感器 | 第13-17页 |
| ·CMOS图象传感器分类 | 第13-14页 |
| ·图象芯片与更小线宽的工艺结合及SOC的发展方向 | 第14-15页 |
| ·图象芯片与更小线宽的工艺结合 | 第14-15页 |
| ·图象芯片SOC的发展方向 | 第15页 |
| ·彩色图象传感的实现 | 第15-17页 |
| ·传统的CMOS图象传感器的实现 | 第15-16页 |
| ·Foveon X3图象传感器技术 | 第16-17页 |
| ·象限传感器的发展 | 第17-22页 |
| ·图象传感器与象限传感器的异同 | 第22-24页 |
| 第二章 象限阵列传感器的电路设计 | 第24-37页 |
| ·传感阵列单元中感光单元的形式 | 第24-37页 |
| ·无源象素单元 | 第24-26页 |
| ·有源象素结构 | 第26-37页 |
| ·单管结构的有源象素 | 第26-27页 |
| ·标准有源象素 | 第27-28页 |
| ·提高增益的有源象素 | 第28-30页 |
| ·混合SOI的传感结构 | 第30页 |
| ·高占空比的对数输出传感阵列 | 第30-31页 |
| ·光栅象素 | 第31-33页 |
| ·电流模象素 | 第33-34页 |
| ·Rail-to-Rail结构的象素单元 | 第34-35页 |
| ·电荷共享象素 | 第35页 |
| ·reset信号环绕象素结构 | 第35-37页 |
| 第三章 象限阵列传感器的电路设计 | 第37-71页 |
| ·象限传感器的系统结构 | 第37-38页 |
| ·象限阵列传感器的电路结构和工作原理 | 第38-39页 |
| ·感光阵列单元的电路与工作原理 | 第38-39页 |
| ·信号传感和读出电路的工作原理 | 第39页 |
| ·象限阵列传感器中电路的设计 | 第39-60页 |
| ·象限感光阵列 | 第39-40页 |
| ·光电二极管 | 第40-43页 |
| ·光电二极管的基本特征与参数 | 第40-41页 |
| ·工艺中可能出现的寄生二极管 | 第41-42页 |
| ·本设计中的光电二极管考虑 | 第42-43页 |
| ·阵列单元内部的读出放大电路 | 第43-44页 |
| ·相关二次采样(CDS)校正电路 | 第44-46页 |
| ·相关二次采样 | 第44页 |
| ·相关二次采样在CMOS有源象素传感器中的应用 | 第44-45页 |
| ·本设计中使用的相关二次采样电路 | 第45-46页 |
| ·偏置电流源 | 第46页 |
| ·对CMOS开关的讨论 | 第46-49页 |
| ·沟道电荷注入效应 | 第47-48页 |
| ·时钟馈通效应 | 第48页 |
| ·减小电荷注入与时钟馈通效应的措施 | 第48-49页 |
| ·对电路中电容的估计 | 第49-54页 |
| ·读出电路参数设计 | 第54-55页 |
| ·对阵列单元中的NMOS管衬底接源和接地的讨论 | 第55-58页 |
| ·电路中晶体管衬底接地与衬底接源端对光电二极管放电性能的影响 | 第55-56页 |
| ·不同的光电流情况下的模拟 | 第56-58页 |
| ·对于实际电流源的分析 | 第58-60页 |
| ·对理想电流源和实际电流源异同的分析 | 第58-59页 |
| ·使用实际电流源时电路中采样电平动态范围的界定 | 第59-60页 |
| ·对阵列单元和采样保持电路的模拟 | 第60-65页 |
| ·在一定的光电流下对系统工作过程中采样保持电路的输出信号的模拟 | 第60-61页 |
| ·对复位信号上跳变过程中，输出信号变化情况的模拟 | 第61-62页 |
| ·对开关漏电情况进行模拟 | 第62-64页 |
| ·对采样保持电容CS，CR充放电的考虑 | 第64-65页 |
| ·运算放大器的设计 | 第65-71页 |
| ·差分输入，AB类输出的两级运放 | 第65-67页 |
| ·Fold Cascode结构 | 第67-68页 |
| ·扩大输出摆幅的Fold cascode运算放大器 | 第68-69页 |
| ·实现了Rail to Rail的运算放大器设计 | 第69-71页 |
| 第四章 版图设计与感光单元器件结构优化 | 第71-95页 |
| ·阵列式象限传感器的版图设计的考虑 | 第71-72页 |
| ·传感器系统中感光单元阵列的版图设计 | 第72-74页 |
| ·采样保持电路中版图的设计考虑 | 第74-77页 |
| ·恒流源的版图设计考虑 | 第77-78页 |
| ·运算放大器中版图设计的考虑 | 第78-81页 |
| ·比较器版图的设计 | 第81-82页 |
| ·模拟部分的电源和地在版图设计中的考虑 | 第82-83页 |
| ·串扰以及在Mixed-Signal电路版图和布线中对噪声去除的方法 | 第83-86页 |
| ·串扰 | 第83-85页 |
| ·在Mixed-Signal电路版图和布线中对噪声去除的方法 | 第85-86页 |
| ·感光单元的器件物理结构优化设计 | 第86-94页 |
| ·使用Cadence软件完成版图的绘制和验证 | 第94-95页 |
| 第五章 数字控制与动态范围调整电路的设计 | 第95-111页 |
| ·数字控制部分的实现 | 第95-99页 |
| ·使用EDA方法设计数字电路的主要流程 | 第95-96页 |
| ·时序的确定及Verilog的实现 | 第96-99页 |
| ·自动布局布线的实现 | 第99-108页 |
| ·文件准备 | 第99-101页 |
| ·SE的准备工作 | 第101页 |
| ·导入文件 | 第101-102页 |
| ·SE自动布局布线 | 第102-104页 |
| ·从SE中导出gds2文件 | 第104-106页 |
| ·对自动布局布线的一些考虑 | 第106-108页 |
| ·动态范围自动调整电路的设计与实现 | 第108-111页 |
| 第六章 测试与分析 | 第111-163页 |
| ·在设计中的可测性考虑 | 第111-113页 |
| ·芯片的封装 | 第113-120页 |
| ·芯片制造完成后影响芯片性能的因素以及防止措施 | 第113-115页 |
| ·本设计中封装的实现 | 第115-120页 |
| ·暗光测试的采用PQFP44形式的封装 | 第117-118页 |
| ·陶瓷封装 | 第118-120页 |
| ·暗光测试 | 第120-121页 |
| ·第一阶段的有光测试及动态范围调整测试 | 第121-132页 |
| ·对光电传感单元工作情况的判断性测试 | 第122-124页 |
| ·在确定光照下对光电传感单元工作情况的测试 | 第124-128页 |
| ·动态范围调整 | 第128-132页 |
| ·第二阶段的有光测试与全芯片测试 | 第132-150页 |
| ·暗电流的测试与讨论 | 第133-140页 |
| ·有光照情况下的测试 | 第140-142页 |
| ·数字部分耦合到模拟部分的噪声测试 | 第142-143页 |
| ·芯片整体工作的输出测试 | 第143-145页 |
| ·关于芯片的传感输出噪声问题的讨论 | 第145-147页 |
| ·传感器芯片对一光点的传感输出及信号处理 | 第147-148页 |
| ·传感器动态范围调整的测试 | 第148-150页 |
| ·对进行器件结构优化的感光单元的测试 | 第150-163页 |
| ·网格状光电二极管结构光电传感器的结构与测试 | 第152-157页 |
| ·原理与结构 | 第152-155页 |
| ·测试结果 | 第155-157页 |
| ·不同结深光电管结构的光电传感器单元测试 | 第157-163页 |
| ·不同光电二极管结构的有源感光单元设计 | 第158-160页 |
| ·测试与结果 | 第160-163页 |
| 第七章 论文总结与展望 | 第163-169页 |
| ·论文总结 | 第163-165页 |
| ·256光电管单元阵列四象限CMOS光电传感器研究总结 | 第163-164页 |
| ·有源感光单元器件物理结构优化研究总结 | 第164-165页 |
| ·对今后工作的建议与展望 | 第165-169页 |
| 参考文献 | 第169-182页 |
| 感谢 | 第182-183页 |
| 文章发表情况 | 第183页 |
