半导体器件噪声频域和时域分析的新方法研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-25页 |
·研究的意义 | 第11页 |
·研究的现状与问题 | 第11-14页 |
·研究现状 | 第11-13页 |
·存在的问题 | 第13-14页 |
·解决的思路和方法 | 第14-21页 |
·噪声采集 | 第14页 |
·噪声模型 | 第14-16页 |
·噪声分析的新方法 | 第16-21页 |
·本文研究的主要内容 | 第21-25页 |
第二章 半导体器件噪声的模型研究 | 第25-39页 |
·半导体器件噪声的分类和机理 | 第25-30页 |
·噪声的分类 | 第25-27页 |
·热噪声的物理模型 | 第27-28页 |
·散粒噪声的物理模型 | 第28页 |
·G-R噪声的物理模型 | 第28-29页 |
·1/f噪声的物理模型 | 第29-30页 |
·1/f噪声的数值模拟 | 第30-38页 |
·分数布朗运动模型及数值模拟方法 | 第31-34页 |
·RTS叠加模型及数值模拟方法 | 第34-38页 |
·小结 | 第38-39页 |
第三章 噪声的功率谱分析和时间序列采集 | 第39-53页 |
·噪声采集 | 第39-42页 |
·DMA双缓冲技术 | 第39-41页 |
·数据流盘技术 | 第41-42页 |
·频谱参数的测量 | 第42-44页 |
·频谱拟合 | 第44-52页 |
·白噪声和1/f噪声的拟合 | 第44-48页 |
·G-R噪声的拟合 | 第48-52页 |
·小结 | 第52-53页 |
第四章 噪声的子波分析方法 | 第53-69页 |
·噪声与子波分析 | 第53-55页 |
·子波极大模统计特性分析方法 | 第55-60页 |
·子波极大模 | 第55-56页 |
·1/f噪声的子波极大模统计特性 | 第56-57页 |
·威布尔分布拟合 | 第57-58页 |
·用于MOSFET器件1/f噪声分析 | 第58-60页 |
·局部Lipschitz指数分析方法 | 第60-62页 |
·平均Lipschitz指数分析方法 | 第62-63页 |
·子波相似系数分析方法 | 第63-65页 |
·多分形奇异谱分析方法 | 第65-67页 |
·子波谱分析方法 | 第67-68页 |
·小结 | 第68-69页 |
第五章 噪声的高阶统计量分析方法 | 第69-85页 |
·噪声与高阶累积量分析 | 第69-73页 |
·高阶累积量分析概述 | 第69-70页 |
·噪声与高阶统计量 | 第70-71页 |
·各模拟噪声的双向干函数 | 第71-73页 |
·新分析方法 | 第73-79页 |
·Hinich检验 | 第73页 |
·双相干系数平方和 | 第73-74页 |
·四类典型模拟噪声信号的构造与验证 | 第74-76页 |
·与偏度和峰度的对比 | 第76-77页 |
·典型MOSFET噪声信号的验证 | 第77-79页 |
·对nMOSFET噪声的分析 | 第79-83页 |
·实验结果 | 第79-80页 |
·讨论 | 第80-83页 |
·小结 | 第83-85页 |
第六章 噪声的复杂度分析方法 | 第85-121页 |
·噪声与复杂度分析 | 第85-87页 |
·关于复杂性的几个概念 | 第85-87页 |
·噪声与复杂度分析 | 第87页 |
·LZ复杂度分析方法 | 第87-105页 |
·LZ复杂度分析方法的实现与改进 | 第88-98页 |
·噪声的LZ复杂度分析 | 第98-105页 |
·涨落复杂度分析方法 | 第105-119页 |
·涨落复杂度分析方法的实现与改进 | 第105-114页 |
·噪声的涨落复杂度分析 | 第114-119页 |
·小结 | 第119-121页 |
第七章 其他分析方法探索 | 第121-135页 |
·相关积分分析方法 | 第121-128页 |
·相空间重构 | 第121-123页 |
·关联熵和关联维的定义、算法及特性 | 第123-125页 |
·方法验证 | 第125-128页 |
·Hurst指数分析 | 第128-133页 |
·Hurst指数的由来 | 第128-129页 |
·估计Hurst指数的常用方法 | 第129-131页 |
·方法验证 | 第131-133页 |
·小结 | 第133-135页 |
第八章 噪声分析方法的工程实现 | 第135-151页 |
·MATLAB与LabVIEW的集成 | 第135-136页 |
·噪声测试分析系统软件部分的实现 | 第136-143页 |
·噪声测试分析系统的硬件组成 | 第138页 |
·噪声测试分析系统的软件组成 | 第138-143页 |
·频率响应特性分析仪的实现 | 第143-150页 |
·频响分析仪的系统结构 | 第144-146页 |
·产品性能和技术指标 | 第146-150页 |
·小结 | 第150-151页 |
第九章 全文研究工作总结 | 第151-155页 |
致谢 | 第155-157页 |
参考文献 | 第157-175页 |
研究成果 | 第175-176页 |