| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目次 | 第9-11页 |
| 1 绪论—白光LED综述 | 第11-43页 |
| ·白光LED简介 | 第11-30页 |
| ·LED发展简介 | 第11-13页 |
| ·白光LED原理及特性 | 第13-22页 |
| ·国外LED芯片主要厂商 | 第22-26页 |
| ·国内LED发展概况 | 第26-30页 |
| ·LED发展趋势 | 第30-37页 |
| ·大功率LED封装技术 | 第30-33页 |
| ·LED照明系统的热量管理 | 第33-34页 |
| ·LED照明与太阳能的结合运用 | 第34-35页 |
| ·大尺寸LED背光源 | 第35-37页 |
| ·白光LED驱动方式 | 第37-43页 |
| ·线性调整型LED驱动 | 第37-40页 |
| ·开关电源型LED驱动 | 第40-43页 |
| 2 精密比例采样模式LED驱动电路理论分析 | 第43-51页 |
| ·芯片设计指标 | 第43页 |
| ·芯片电路结构及工作原理 | 第43-44页 |
| ·精密采样模式电路分析 | 第44-48页 |
| ·精密采样模式与传统采样模式比较 | 第48-51页 |
| 3 驱动电路各模块设计与仿真 | 第51-73页 |
| ·输出级功率MOS管和传感MOS管设计 | 第51-52页 |
| ·输出级大功率MOS管栅压选取 | 第51页 |
| ·输出级大功率MOS管宽长比设计 | 第51-52页 |
| ·传感电流设定 | 第52页 |
| ·LED等效电路模型 | 第52-53页 |
| ·带隙基准电压源电路的设计于仿真 | 第53-58页 |
| ·带隙基准电压产生电路 | 第54-55页 |
| ·多值偏置电压产生电路 | 第55-56页 |
| ·带隙基准电压源整体电路模拟及仿真 | 第56-58页 |
| ·缓冲电路的设计与仿真 | 第58-60页 |
| ·缓冲电路原理 | 第58-59页 |
| ·缓冲电路电路结构及仿真 | 第59-60页 |
| ·运算放大器设计 | 第60-62页 |
| ·精密比例采样模式LED驱动电路整体电路仿真 | 第62-68页 |
| ·精密比例采样模式和传统比例采样模式驱动电路等效输出电阻比较 | 第63-65页 |
| ·精密比例采样模式和传统采用模式驱动电路恒流特性比较 | 第65-66页 |
| ·精密比例采样模式驱动电路稳定性仿真 | 第66-68页 |
| ·精密比例采样模式驱动电路输出电流随温度变化情况 | 第68页 |
| ·过温保护电路设计 | 第68-73页 |
| 4 驱动芯片版图设计 | 第73-81页 |
| ·工艺介绍 | 第73页 |
| ·大功率MOS管版图设计 | 第73-75页 |
| ·带隙基准源的版图设计 | 第75-77页 |
| ·运算放大器版图设计 | 第77-78页 |
| ·缓冲器版图设计 | 第78-79页 |
| ·PAD和ESD保护 | 第79-80页 |
| ·整体驱动电路的版图设计 | 第80-81页 |
| 5 芯片测试结果与分析 | 第81-105页 |
| ·芯片测试方案 | 第81-84页 |
| ·芯片封装管脚 | 第81-83页 |
| ·可测性分析 | 第83-84页 |
| ·测试仪器及元器件 | 第84页 |
| ·各模块电路的测试 | 第84-91页 |
| ·大功率MOS管测试 | 第84-87页 |
| ·带隙基准源的测试 | 第87-90页 |
| ·运放跟随特性测试 | 第90-91页 |
| ·整体电路恒流测试 | 第91-100页 |
| ·采样电阻和输出电流关系曲线 | 第91-92页 |
| ·输出电流恒流曲线 | 第92-93页 |
| ·传统采样模式和精密采样模式输出恒流特性比较 | 第93-99页 |
| ·输出驱动电流随温度变化情况 | 第99-100页 |
| ·芯片电源转换效率 | 第100页 |
| ·过温保护功能测试 | 第100-102页 |
| ·测试小结 | 第102-105页 |
| 总结与展望 | 第105-107页 |
| 参考文献 | 第107-111页 |
| 作者简介及科研成果 | 第111页 |