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热振加载环境下电子封装结构的疲劳寿命计算

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第12-14页
缩略语对照表第14-18页
第一章 绪论第18-26页
    1.1 论文背景及研究意义第18-20页
        1.1.1 论文背景第18-19页
        1.1.2 研究意义第19-20页
    1.2 相关领域的研究发展现状第20-23页
        1.2.1 热应力及热循环疲劳寿命计算方法研究进展第20-21页
        1.2.2 随机振动响应及随机振动疲劳寿命计算方法研究进展第21-22页
        1.2.3 热振环境下结构的响应及疲劳寿命计算方法研究进展第22-23页
    1.3 本文的主要研究工作和章节安排第23-26页
第二章 热循环加载条件下塑料球栅阵列封装疲劳寿命分析第26-40页
    2.1 引言第26页
    2.2 焊点失效的原因分析第26-27页
    2.3 Anand统一粘塑性理论概述第27-28页
    2.4 有限元分析概述第28-30页
        2.4.1 有限元分析的基本原理第28-29页
        2.4.2 相关有限元软件介绍第29-30页
    2.5 热循环疲劳寿命分析技术路线第30-31页
    2.6 热循环加载条件下电子封装结构的响应分析第31-37页
        2.6.1 建立有限元分析模型第31-33页
        2.6.2 定义材料参数第33-35页
        2.6.3 划分网格第35-36页
        2.6.4 设置边界条件和温度载荷第36-37页
        2.6.5 求解并分析响应结果第37页
    2.7 热循环加载条件下的疲劳寿命计算第37-38页
    2.8 本章小结第38-40页
第三章 随机振动加载条件下塑料球栅阵列封装疲劳寿命分析第40-66页
    3.1 引言第40页
    3.2 模态分析理论基础第40-41页
    3.3 随机振动理论基础第41-44页
        3.3.1 随机过程的统计规律性第41-42页
        3.3.2 线性系统的响应函数第42-44页
    3.4 相关有限元软件中的随机振动分析方法概述第44-45页
    3.5 随机振动加载条件下疲劳寿命分析技术路线第45-46页
    3.6 随机振动加载条件下塑料球栅阵列封装结构响应分析第46-56页
        3.6.1 建立和简化有限元模型第47-48页
        3.6.2 结构模态分析第48-54页
        3.6.3 随机振动响应分析第54-56页
    3.7 随机振动加载条件下的疲劳寿命计算第56-65页
        3.7.1 提取关键位置的应变响应PSD曲线第56-57页
        3.7.2 应变信号的频域向时域转化第57-59页
        3.7.3 雨流计数法统计应变分布情况第59-62页
        3.7.4 随机振动加载条件下的疲劳寿命计算第62-65页
    3.8 本章小结第65-66页
第四章 热振耦合加载条件下塑料球栅阵列封装疲劳寿命分析第66-70页
    4.1 引言第66页
    4.2 热振耦合加载条件下疲劳寿命分析技术路线第66-67页
    4.3 热振耦合加载条件下的疲劳寿命计算第67-68页
        4.3.1 热循环加载条件下的损伤计算第67页
        4.3.2 随机振动加载条件下的损伤计算第67-68页
        4.3.3 热振同时加载条件下的寿命计算第68页
    4.4 影响疲劳寿命的因素分析第68页
    4.5 本章小结第68-70页
第五章 热振耦合加载条件下某电子封装结构的疲劳寿命分析第70-92页
    5.1 引言第70页
    5.2 某板级电子封装结构的建模及简化第70-72页
    5.3 热振分别加载条件下某电子封装结构的响应分析第72-80页
        5.3.1 热循环加载条件下的响应分析第72-75页
        5.3.2 随机振动加载条件下的响应分析第75-80页
    5.4 热振同时加载条件下某电子封装结构的疲劳寿命计算第80-91页
        5.4.1 热循环加载条件下的疲劳寿命计算第80-81页
        5.4.2 随机振动加载条件下的疲劳寿命计算第81-90页
        5.4.3 热振耦合加载条件下的疲劳寿命计算第90-91页
    5.5 本章小结第91-92页
第六章 总结与展望第92-94页
    6.1 本文的主要工作第92-93页
    6.2 本文的创新之处第93页
    6.3 对该研究未来的展望第93-94页
参考文献第94-98页
附录第98-102页
致谢第102-104页
作者简介第104-105页

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