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深海水体序列采样器密封可靠性与自动释放回收技术研究

致谢第4-5页
摘要第5-6页
Abstract第6页
1 绪论第9-18页
    1.1 研究背景及意义第9-10页
    1.2 研究现状第10-15页
        1.2.1 国外研究现状第10-13页
        1.2.2 国内研究现状第13-15页
    1.3 课题难点及研究内容第15-17页
        1.3.1 课题难点第15-16页
        1.3.2 研究内容第16-17页
    1.4 本章小结第17-18页
2 可靠性测试系统研究第18-34页
    2.1 引言第18页
    2.2 机械可靠性方法第18-24页
        2.2.1 可靠性的定义第18-19页
        2.2.2 机械可靠性的常用特征量第19-20页
        2.2.3 工程常用概率分布第20-22页
        2.2.4 回归分析及假设检验第22-23页
        2.2.5 通用的密封失效率模型第23-24页
    2.3 功能模块第24-25页
    2.4 寿命测试模块硬件结构设计第25-26页
    2.5 寿命测试模块主控板电路设计第26-29页
    2.6 寿命测试模块软件设计第29-32页
    2.7 阻力测试模块设计第32-33页
    2.8 本章小结第33-34页
3 采样阀密封寿命研究第34-48页
    3.1 引言第34-35页
    3.2 密封可靠性与模型选择第35-36页
    3.3 实验方法第36-38页
    3.4 磨损过程与失效机理第38-44页
    3.5 密封失效概率密度函数第44-47页
    3.6 本章小结第47-48页
4 采样器高压动密封可靠性研究第48-62页
    4.1 引言第48-49页
    4.2 O形圈动密封阻力趋势理论模型第49-51页
    4.3 动密封阻力实验第51-55页
        4.3.1 实验方法第51-53页
        4.3.2 实验结果第53-55页
    4.4 密封效果实验第55-61页
        4.4.1 实验方法第55-58页
        4.4.2 实验结果第58-61页
    4.5 本章小结第61-62页
5 序列采样器自动释放系统研究第62-94页
    5.1 引言第62-63页
    5.2 机械结构设计第63-76页
        5.2.1 宏观结构概述第63-65页
        5.2.2 弹力释放机构第65-71页
        5.2.3 步进电机触发腔传动机构设计第71-76页
    5.3 电路设计第76-83页
        5.3.1 控制板电路设计第76-77页
        5.3.2 步进电机电路设计第77-81页
        5.3.3 多路通信ICL设计第81-82页
        5.3.4 控制板PCB设计第82-83页
    5.4 步进电机控制程序设计第83-84页
    5.5 任务完成度可靠性的分析方法第84-87页
    5.6 局部功能实验验证第87-93页
        5.6.1 多通道ICL通信实验第87-88页
        5.6.2 步进电机控制试验第88-90页
        5.6.3 释放机构试验第90-93页
    5.7 本章小结第93-94页
6 总结与展望第94-96页
    6.1 工作总结第94-95页
    6.2 课题展望第95-96页
参考文献第96-99页
作者简历第99页

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