EDXRF最小二乘法全谱拟合无标样算法
| 摘要 | 第4-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第1章 引言 | 第13-17页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 X射线荧光分析国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 课题来源 | 第15页 |
| 1.4 算法内容 | 第15-16页 |
| 1.5 论文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 EDXRF最小二乘法荧光理论基础 | 第17-28页 |
| 2.1 能量色散X荧光仪工作原理 | 第17-20页 |
| 2.1.1 目标元素定性分析原理 | 第18页 |
| 2.1.2 原级谱线与样品相互作用 | 第18-19页 |
| 2.1.3 被测样品对原级谱线靶材特征峰的影响。 | 第19-20页 |
| 2.2 目标元素荧光强度定量公式理论基础 | 第20-25页 |
| 2.2.1 目标元素一次荧光理论公式 | 第20-23页 |
| 2.2.2 目标元素二次荧光理论公式 | 第23-24页 |
| 2.2.3 目标元素三次荧光理论公式 | 第24-25页 |
| 2.3 EDXRF最小二乘法荧光理论强度计算方案 | 第25-28页 |
| 第3章 基本参数求解 | 第28-47页 |
| 3.1 原级谱线分布)(Ey求解 | 第28-29页 |
| 3.2 激发因子求解 | 第29-32页 |
| 3.2.1 吸收限跃迁因子求解 | 第29-30页 |
| 3.2.2 谱线分数求解 | 第30-31页 |
| 3.2.3 荧光产额求解 | 第31-32页 |
| 3.3 质量吸收系数求解 | 第32-37页 |
| 3.3.1 质量吸收系数概述 | 第32-34页 |
| 3.3.2 单元素光电质量吸收系数计算 | 第34-36页 |
| 3.3.3 单元素康普顿散射吸收计算 | 第36页 |
| 3.3.4 混合样品质量吸收系数计算 | 第36-37页 |
| 3.4 仪器几何参数iG求解 | 第37-42页 |
| 3.4.1 G_i求解原理 | 第37-38页 |
| 3.4.2 单元素标准样品制作 | 第38-41页 |
| 3.4.3 G_i求解结果分析 | 第41-42页 |
| 3.5 高斯标准差参数求解 | 第42-47页 |
| 3.5.1 高斯标准差参数理论求解 | 第42-43页 |
| 3.5.2 高斯标准差参数实际求解 | 第43-47页 |
| 第4章 样品基体确定 | 第47-50页 |
| 4.1 样品确定依据 | 第47-48页 |
| 4.2 基体确认实验 | 第48-50页 |
| 第5章 EDXRF最小二乘法全谱解析 | 第50-54页 |
| 5.1 最小二乘原理 | 第50-51页 |
| 5.2 EDXRF最小二乘法全谱解析矩阵 | 第51-52页 |
| 5.3 EDXRF最小二乘法全谱匹配算法流程 | 第52-53页 |
| 5.4 最小二乘全谱匹配算法收敛性问题 | 第53-54页 |
| 第6章 EDXRF最小二乘法全谱解析结果分析 | 第54-62页 |
| 6.1 最小二乘法全谱解析算法准确性检验 | 第54-58页 |
| 6.2 本文算法与以往无标样算法对比 | 第58-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第66页 |
