基于串行闪存的数据采集存储系统的研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·课题研究背景 | 第8页 |
·存储测试技术的国内外研究现状 | 第8-10页 |
·存储器的发展状况 | 第10-13页 |
·本课题研究目的及意义 | 第13-14页 |
·本测试系统的性能指标 | 第14页 |
·论文的主要内容及结构安排 | 第14-16页 |
第二章 高冲击加速度存储测试装置的关键技术 | 第16-33页 |
·微型化技术 | 第16-18页 |
·抗高冲击 | 第18-27页 |
·机械结构抗冲击性 | 第18-24页 |
·元器件抗冲击性 | 第24-26页 |
·灌封技术 | 第26-27页 |
·系统测试精度分析 | 第27-31页 |
·传感器灵敏度 | 第27-28页 |
·传感器动态特性分析 | 第28-31页 |
·信号有效性存储 | 第31-33页 |
第三章 硬件设计 | 第33-50页 |
·系统组成及工作原理 | 第33-34页 |
·总体方案设计 | 第34页 |
·状态设计及工作流程 | 第34-37页 |
·硬件电路设计 | 第37-50页 |
·电源管理模块 | 第38页 |
·信号调理模块 | 第38-39页 |
·采集存储模块 | 第39-48页 |
·接口模块 | 第48-50页 |
第四章 CPLD 控制逻辑设计 | 第50-61页 |
·CPLD 简介 | 第50-54页 |
·XCR3064 介绍 | 第50-52页 |
·VHDL 语言 | 第52-54页 |
·设计流程 | 第54-55页 |
·模块化设计及仿真 | 第55-60页 |
·采集子模块 | 第55-56页 |
·存储子模块 | 第56-58页 |
·计数子模块 | 第58-59页 |
·12bit 到16bit 转换的子模块 | 第59-60页 |
·集成仿真及综合优化 | 第60-61页 |
第五章 系统调试验证 | 第61-65页 |
·电路调试 | 第61-62页 |
·高冲击试验 | 第62-65页 |
第六章 总结 | 第65-68页 |
·研究成果及结论 | 第65-66页 |
·设计改进的方向 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-73页 |
攻读硕士期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第73-74页 |
致谢 | 第74页 |