集成电路的容软错误技术研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 研究课题目的及意义 | 第16-18页 |
| 1.3 研究现状 | 第18-20页 |
| 1.4 本文工作 | 第20-21页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第20页 |
| 1.4.2 主要贡献 | 第20-21页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第21-22页 |
| 第二章 基础知识介绍 | 第22-34页 |
| 2.1 集成电路失效概述 | 第22-23页 |
| 2.2 软错误基础知识 | 第23-29页 |
| 2.2.1 基本概念 | 第23-24页 |
| 2.2.2 辐射环境 | 第24-25页 |
| 2.2.3 故障种类 | 第25-27页 |
| 2.2.4 三种屏蔽效应 | 第27-28页 |
| 2.2.5 软错误防护技术 | 第28-29页 |
| 2.3 可靠性评估 | 第29-30页 |
| 2.4 应用工具介绍 | 第30-33页 |
| 2.4.1 HSPICE仿真工具 | 第30-32页 |
| 2.4.2 BFIT软错误率计算工具 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 基于二分查找的电路选择性加固方案 | 第34-42页 |
| 3.1 三模冗余加固方案及其改进方案 | 第34-36页 |
| 3.2 平衡指标AF | 第36页 |
| 3.3 二分查找替换算法 | 第36-38页 |
| 3.4 实验结果 | 第38-40页 |
| 3.5 方案比较 | 第40-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 低开销的防辐射结构设计 | 第42-53页 |
| 4.1 相关工作 | 第42-48页 |
| 4.1.1 C单元 | 第42-43页 |
| 4.1.2 SEM结构和STEM结构 | 第43-47页 |
| 4.1.3 MVS结构 | 第47-48页 |
| 4.2 MSC FF结构 | 第48-49页 |
| 4.3 仿真结果与分析 | 第49-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结和展望 | 第53-55页 |
| 5.1 全文总结 | 第53-54页 |
| 5.2 展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第59-60页 |
