| 摘要 | 第8-10页 |
| Abstract | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第12-18页 |
| 1.1.1 短波红外成像及其应用进展 | 第12-16页 |
| 1.1.2 InGaAs焦平面组件的发展 | 第16-18页 |
| 1.2 焦平面组件测试系统研究现状及趋势 | 第18-21页 |
| 1.3 论文主要内容及系统方案 | 第21-22页 |
| 第二章 InGaAs FPAs组件的评价方法 | 第22-41页 |
| 2.1 基于红外焦平面阵列参数测试方法的评价体系 | 第22-27页 |
| 2.2 基于图像法对InGaAs焦平面组件性能的评估方式 | 第27-40页 |
| 2.2.1 噪声 | 第27-28页 |
| 2.2.2 盲元率及盲元分布图 | 第28-32页 |
| 2.2.3 图像峰值信噪比 | 第32-33页 |
| 2.2.4 响应率不均匀性 | 第33-35页 |
| 2.2.5 调制传递函数 | 第35-40页 |
| 2.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 第三章 短波红外图像处理技术 | 第41-49页 |
| 3.1 盲元补偿 | 第41-43页 |
| 3.2 非均匀性校正 | 第43-45页 |
| 3.3 直方图均衡 | 第45-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 InGaAs焦平面组件性能测试装置设计及实验 | 第49-65页 |
| 4.1 性能测试装置设计 | 第49-51页 |
| 4.2 硬件构成 | 第51-53页 |
| 4.3 软件功能 | 第53-58页 |
| 4.4 测试结果 | 第58-64页 |
| 4.4.1 测试数据对比 | 第58-60页 |
| 4.4.2 组件性能评估结果 | 第60-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 工作总结 | 第65页 |
| 5.2 后期展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 攻读硕士期间的科研成果 | 第72-73页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第73页 |