238U样品积分实验的模拟计算及前级准直系统设计
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第9-16页 |
| 1.1 积分实验的意义 | 第9-11页 |
| 1.2 积分实验的发展现状与背景 | 第11-15页 |
| 1.3 本文的工作内容 | 第15-16页 |
| 第二章 积分实验的方法原理 | 第16-22页 |
| 2.1 飞行时间方法的原理 | 第16页 |
| 2.2 飞行时间谱转换成能谱 | 第16-17页 |
| 2.3 核电子学技术 | 第17-21页 |
| 2.4 实验工作中的几个重要问题 | 第21-22页 |
| 第三章 238U 中子学积分实验的模拟计算 | 第22-39页 |
| 3.1 已完成的238U 积分实验情况简介 | 第22-24页 |
| 3.1.1 实验几何安排 | 第22-23页 |
| 3.1.2 系统检验 | 第23-24页 |
| 3.2 238U 的数据现状 | 第24-27页 |
| 3.2.1 主要反应道的介绍 | 第24-25页 |
| 3.2.2 各反应道截面的比较 | 第25-27页 |
| 3.3 238U 积分实验的数据处理与模拟计算 | 第27-38页 |
| 3.3.1 实验数据的处理分析流程 | 第27-28页 |
| 3.3.2 实验的相关模拟计算 | 第28-32页 |
| 3.3.2.1 液闪探测效率模拟 | 第28-30页 |
| 3.3.2.2 源中子能谱与角分布模拟 | 第30-31页 |
| 3.3.2.3 不同角度上的泄漏中子谱模拟 | 第31-32页 |
| 3.3.3 模拟结果分析 | 第32-38页 |
| 3.3.3.1 误差分析 | 第32-33页 |
| 3.3.3.2 C/E 值比较与分析 | 第33-38页 |
| 3.4 小结 | 第38-39页 |
| 第四章 实验布局的优化 | 第39-48页 |
| 4.1 十一五期间实验的不足 | 第39页 |
| 4.2 准直器的设计 | 第39-42页 |
| 4.2.1 准直器材料与尺寸 | 第40-41页 |
| 4.2.2 准直器位置 | 第41页 |
| 4.2.3 准直孔形状 | 第41-42页 |
| 4.3 阴影锥的设计 | 第42-44页 |
| 4.3.1 阴影锥材料与尺寸 | 第43页 |
| 4.3.2 阴影锥形状与位置 | 第43-44页 |
| 4.4 准直器系统模拟结果 | 第44-47页 |
| 4.4.1 本底模拟 | 第44-45页 |
| 4.4.2 样品效应本底比 | 第45-47页 |
| 4.5 小结 | 第47-48页 |
| 第五章 总结与展望 | 第48-50页 |
| 5.1 总结 | 第48-49页 |
| 5.2 展望 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 附录1: NEFF 程序的输入文件 | 第53-54页 |
| 附录2: TARGET 程序输入文件 | 第54-57页 |
| 附录3: MCNP 程序的输入文件 | 第57-64页 |
| 附录4: 前级准直系统的 MCNP 部分输入卡 | 第64-65页 |
