| 目录 | 第7-9页 |
| 摘要 | 第9-11页 |
| Abstract | 第11-13页 |
| 第一章 绪论 | 第14-28页 |
| 1.1 磁性基本知识 | 第16-17页 |
| 1.2 稀磁半导体材料研究进展 | 第17-20页 |
| 1.3 d0铁磁性的产生及磁性来源 | 第20-23页 |
| 1.4 常见氧化物的磁性 | 第23-24页 |
| 1.5 纳米材料 | 第24-26页 |
| 1.6 本文的选题目的及意义 | 第26-28页 |
| 第二章 实验表征方法 | 第28-51页 |
| 2.1 正电子湮没技术 | 第28-34页 |
| 2.1.1 正电子谱学基础 | 第28-34页 |
| 2.2 正电子湮没测量技术 | 第34-48页 |
| 2.2.1 正电子源 | 第34-36页 |
| 2.2.2 正电子湮没寿命谱测量 | 第36-39页 |
| 2.2.3 正电子湮没符合多普勒展宽谱测量 | 第39-46页 |
| 2.2.4 慢正电子束分析技术 | 第46-48页 |
| 2.3 其他实验表征方法 | 第48-51页 |
| 2.3.1 X射线衍射 | 第48-49页 |
| 2.3.2 电子显微分析 | 第49-50页 |
| 2.3.3 超导量子干涉仪及多功能物理性能测量系统 | 第50-51页 |
| 第三章 界面缺陷对纳米氧化物磁性影响的研究 | 第51-67页 |
| 引言 | 第51-52页 |
| 3.1 纳米材料的样品制备和表征 | 第52-53页 |
| 3.2 MgO结果与讨论 | 第53-61页 |
| 3.2.1 MgO的XRD表征 | 第53-55页 |
| 3.2.2 MgO的正电子湮没测量结果 | 第55-60页 |
| 3.2.3 MgO的磁性测量 | 第60-61页 |
| 3.3 CeO_2结果与讨论 | 第61-66页 |
| 3.3.1 CeO_2的XRD表征 | 第61-62页 |
| 3.3.2 CeO_2的正电子湮没测量结果 | 第62-65页 |
| 3.3.4 CeO_2的磁性测量 | 第65-66页 |
| 3.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第四章 晶粒尺寸及界面缺陷对纳米氧化物磁性影响的鉴别 | 第67-84页 |
| 引言 | 第67-68页 |
| 4.1 纳米材料的样品制备和表征 | 第68页 |
| 4.2 ZrO_2的结果与讨论 | 第68-75页 |
| 4.2.1 ZrO_2的XRD表征 | 第68-69页 |
| 4.2.2 ZrO_2的电镜测量 | 第69-70页 |
| 4.2.3 ZrO_2的正电子潭没测量结果 | 第70-73页 |
| 4.2.4 ZrO_2的磁性测量 | 第73-75页 |
| 4.3 NiO的结果与讨论 | 第75-82页 |
| 4.3.1 NiO的XRD测量 | 第75-77页 |
| 4.3.2 NiO的正电子湮没测量结果 | 第77-81页 |
| 4.3.3 NiO的磁性测量 | 第81-82页 |
| 4.4 本章小结 | 第82-84页 |
| 第五章 Co掺杂ZnO纳米复合物的结构缺陷及磁性研究 | 第84-94页 |
| 引言 | 第84-85页 |
| 5.1 Co掺杂ZnO纳米复合物的制备与表征 | 第85页 |
| 5.2 Co掺杂ZnO纳米复合物的结果与讨论 | 第85-92页 |
| 5.2.1 XRD测量及分析 | 第85-87页 |
| 5.2.2 正电子寿命测量及分析 | 第87-89页 |
| 5.2.3 多普勒展宽测量及分析 | 第89-91页 |
| 5.2.4 磁性测量及分析 | 第91-92页 |
| 5.3 本章小结 | 第92-94页 |
| 第六章 全文总结及今后展望 | 第94-96页 |
| 6.1 主要结论 | 第94-95页 |
| 6.2 研究中存在的问题及今后展望 | 第95-96页 |
| 参考文献 | 第96-105页 |
| 攻读博士学位期间已发表科研目录 | 第105-106页 |
| 致谢 | 第106-107页 |
