考虑元件参数退化的模拟电路性能退化分析
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第8-13页 |
| 1.2.1 基本电路元件退化研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 模拟电路性能退化研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3 本文的结构安排和主要内容 | 第13-16页 |
| 第2章 基本电路元件参数退化分析 | 第16-31页 |
| 2.1 引言 | 第16-17页 |
| 2.2 无源元件退化模型建立 | 第17-25页 |
| 2.2.1 电阻退化规律分析 | 第17-18页 |
| 2.2.2 电容退化规律分析 | 第18-20页 |
| 2.2.3 三极管退化规律分析 | 第20-22页 |
| 2.2.4 功率MOSFET退化规律分析 | 第22-25页 |
| 2.3 有源元件退化规律分析 | 第25-30页 |
| 2.3.1 UC1846原理分析 | 第25-27页 |
| 2.3.2 UC1846退化规律分析 | 第27-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 基于传递函数模型的电路性能退化分析 | 第31-59页 |
| 3.1 引言 | 第31-32页 |
| 3.2 基于传递函数模型的电路性能分析 | 第32-38页 |
| 3.2.1 电路性能分析 | 第32-34页 |
| 3.2.2 退化对电路性能的影响 | 第34-38页 |
| 3.3 电路灵敏度的研究 | 第38-41页 |
| 3.3.1 电路灵敏度分析的方法 | 第38-40页 |
| 3.3.2 电路灵敏度的研究 | 第40-41页 |
| 3.4 关键元件的选择方法 | 第41-49页 |
| 3.4.1 电路特性曲线相似性的研究 | 第42-46页 |
| 3.4.2 电路特征值相似性的研究 | 第46-47页 |
| 3.4.3 关键元件的选择 | 第47-49页 |
| 3.5 实验验证 | 第49-58页 |
| 3.5.1 传递函数计算实验验证 | 第49-55页 |
| 3.5.2 仿真实验验证 | 第55-58页 |
| 3.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 第4章 基于预测模型的电路性能退化分析 | 第59-85页 |
| 4.1 引言 | 第59页 |
| 4.2 高压电源板分析 | 第59-68页 |
| 4.2.1 高压电源板总体框图 | 第60页 |
| 4.2.2 各模块组成分析 | 第60-66页 |
| 4.2.3 实验数据获取 | 第66-68页 |
| 4.3 基于预测模型的电路性能退化研究方法 | 第68-77页 |
| 4.3.1 灰色模型 | 第68-71页 |
| 4.3.2 粒子滤波算法 | 第71-76页 |
| 4.3.3 融合方法 | 第76-77页 |
| 4.4 仿真实验 | 第77-84页 |
| 4.4.1 缓变数据仿真实验 | 第77-80页 |
| 4.4.2 突变数据仿真实验 | 第80-84页 |
| 4.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 结论 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-93页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第93-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
