摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-18页 |
1.1 引言 | 第10-11页 |
1.2 ZnO的基本性质 | 第11-14页 |
1.2.1 ZnO的能带结构 | 第13-14页 |
1.2.2 ZnO的缺陷与掺杂 | 第14页 |
1.3 Ba_xSr_(1-x)TiO_3概述 | 第14-15页 |
1.4 多波段探测器的应用以及研究进展 | 第15-17页 |
1.5 研究内容 | 第17-18页 |
2 实验方法和测试手段 | 第18-27页 |
2.1 前言 | 第18页 |
2.2 样品制备工艺及基本原理 | 第18-21页 |
2.2.1 制备靶材 | 第18-19页 |
2.2.2 脉冲激光沉积法制备薄膜 | 第19-21页 |
2.3 样品性能表征方法和原理 | 第21-26页 |
2.3.1 X射线衍射仪 | 第21-22页 |
2.3.2 样品形貌和成分表征 | 第22-24页 |
2.3.3 薄膜的光学性质表征 | 第24页 |
2.3.4 薄膜的低温输运表征 | 第24-25页 |
2.3.5 薄膜的介电性能表征 | 第25页 |
2.3.6 薄膜的铁电特性表征 | 第25-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
3 ZMO_BST/STO薄膜的制备以及特性表征 | 第27-35页 |
3.1 引言 | 第27页 |
3.2 样品的制备 | 第27-30页 |
3.2.1 薄膜的结构设计 | 第27-28页 |
3.2.2 La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3靶材的制备 | 第28页 |
3.2.3 Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3靶材的制备 | 第28-29页 |
3.2.4 基片的处理 | 第29页 |
3.2.5 薄膜的制备 | 第29-30页 |
3.3 ZnMgO薄膜样品特性分析 | 第30-32页 |
3.3.1 ZnMgO薄膜的XRD分析 | 第30-31页 |
3.3.2 ZnMgO薄膜的表面形貌分析 | 第31-32页 |
3.4 BST薄膜样品特性分析 | 第32-34页 |
3.4.1 BST薄膜的XRD分析 | 第32-33页 |
3.4.2 BST薄膜的表面形貌分析 | 第33-34页 |
3.5 本章小结 | 第34-35页 |
4 Zn_(1-x)Mg_xO/STO薄膜的光电特性分析 | 第35-48页 |
4.1 引言 | 第35页 |
4.2 ZnMgO薄膜的光谱分析 | 第35-38页 |
4.2.1 ZnMgO薄膜的吸收光谱 | 第35-37页 |
4.2.2 ZnMgO薄膜的透射光谱 | 第37-38页 |
4.3 ZnMgO薄膜界面光诱导的电阻-时间特性 | 第38-41页 |
4.3.1 Zn_(0.9)Mg_(0.1)O薄膜的光诱导的电阻-时间特性 | 第38-39页 |
4.3.2 Zn_(0.7)Mg_(0.3)O薄膜的光诱导的电阻-时间特性 | 第39-40页 |
4.3.3 Zn_(0.5)Mg_(0.5)O薄膜的光诱导的电阻-时间特性 | 第40-41页 |
4.4 ZnMgO薄膜的光诱导的阻温特性 | 第41-47页 |
4.4.1 Zn_(0.9)Mg_(0.1)O薄膜的光诱导的阻温特性 | 第42-43页 |
4.4.2 Zn_(0.7)Mg_(0.3)O薄膜的光诱导的阻温特性 | 第43-45页 |
4.4.3 Zn_(0.5)Mg_(0.5)O薄膜的光诱导的阻温特性 | 第45-47页 |
4.5 本章小结 | 第47-48页 |
5 BST/STO薄膜的特性分析 | 第48-58页 |
5.1 引言 | 第48页 |
5.2 BST薄膜界面光诱导的电阻-时间特性 | 第48-50页 |
5.3 BST薄膜界面光诱导的阻温特性 | 第50-51页 |
5.3.1 BST薄膜界面光诱导的I-V特性 | 第50-51页 |
5.3.2 BST薄膜界面光诱导的R-T特性 | 第51页 |
5.4 BST薄膜的介电特性 | 第51-52页 |
5.5 BST薄膜的铁电特性 | 第52-54页 |
5.6 BST薄膜的热释电特性 | 第54-57页 |
5.6.1 热释电效应 | 第54-55页 |
5.6.2 BST薄膜热释电系数 | 第55-57页 |
5.7 本章小结 | 第57-58页 |
6 结论及展望 | 第58-60页 |
6.1 结论 | 第58-59页 |
6.2 展望 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-66页 |