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面向样本不平衡的故障特征提取方法

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 引言第11-33页
    1.1 故障诊断的研究背景和意义第11-12页
    1.2 故障诊断的研究内容和分类第12-17页
        1.2.1 故障诊断的研究内容第12-13页
        1.2.2 故障诊断的分类第13-17页
    1.3 故障诊断中的样本不平衡特性分析第17-29页
        1.3.1 样本标记不平衡第17-18页
        1.3.2 样本价值不平衡第18-28页
        1.3.3 样本类别不平衡第28-29页
    1.4 论文的主要研究内容第29-33页
第2章 基于半监督主元分析的故障特征提取及诊断算法第33-51页
    2.1 半监督学习理论第33-37页
        2.1.1 半监督学习的假设条件第34-35页
        2.1.2 基于图的半监督学习第35-36页
        2.1.3 基于图的半监督学习和主元分析的联系第36-37页
    2.2 面向样本标记不平衡的半监督主元分析第37-40页
    2.3 基于半监督主元分析的故障诊断方法第40-42页
    2.4 实验与分析第42-50页
    2.5 小结第50-51页
第3章 基于局部保持主元分析的故障特征提取及诊断算法第51-63页
    3.1 面向样本价值不平衡的局部保持主元分析算法第51-55页
        3.1.1 PCA和LPP算法分析第52-53页
        3.1.2 LPPCA算法描述第53-55页
    3.2 LPPCA算法在故障检测中的应用第55-57页
    3.3 实验与分析第57-62页
        3.3.1 数值仿真第57-59页
        3.3.2 TE过程仿真第59-62页
    3.4 小结第62-63页
第4章 基于流形学习的联合FDA故障特征提取及诊断算法第63-87页
    4.1 FDA算法的限制和JFDA算法的提出背景第63-67页
    4.2 面向样本价值不平衡的JFDA算法和它的核扩展第67-75页
        4.2.1 离群点的处理第67-68页
        4.2.2 类内散度和类间散度的构建第68-73页
        4.2.3 Kernel JFDA第73-75页
    4.3 基于(K)JFDA的故障诊断算法第75-76页
    4.4 实验与分析第76-85页
        4.4.1 鸢尾花卉数据集仿真第76-79页
        4.4.2 TE过程仿真第79-85页
    4.5 小结第85-87页
第5章 基于集成学习的敏感MFA故障特征提取及诊断算法第87-107页
    5.1 数据类别不平衡对半导体故障特征提取造成的困扰第87-92页
        5.1.1 半导体制造过程的故障诊断第87-89页
        5.1.2 数据类别不平衡对故障特征提取造成的困扰第89-90页
        5.1.3 不平衡学习的主要方法第90-92页
    5.2 基于集成学习的敏感边际费舍尔分析第92-99页
        5.2.1 边际费舍尔分析简介第92-94页
        5.2.2 ESMFA算法第94-99页
    5.3 ESMFA算法在故障检测中的应用第99-101页
    5.4 实验和分析第101-106页
        5.4.1 不平衡数据分类性能评估方法第101-103页
        5.4.2 SECOM数据集简介第103-104页
        5.4.3 结果和分析第104-106页
    5.5 小结第106-107页
第6章 基于不平衡SVDD的故障特征选择及诊断算法第107-125页
    6.1 特征选择研究概述第107-111页
        6.1.1 无监督特征选择方法第109页
        6.1.2 监督特征选择方法第109-111页
    6.2 无监督和监督特征选择方法在故障诊断中的局限性分析第111-114页
    6.3 面向样本类别不平衡的ISVDD-radius-RFE算法第114-119页
        6.3.1 SVDD和NSVDD简介第114-115页
        6.3.2 AUC简介第115-116页
        6.3.3 ISVDD算法第116-118页
        6.3.4 ISVDD-radius-RFE算法第118-119页
    6.4 实验和分析第119-123页
        6.4.1 香蕉形状数据集第119-121页
        6.4.2 SECOM数据集第121-123页
    6.5 小结第123-125页
第7章 总结与展望第125-127页
参考文献第127-135页
致谢第135-137页
攻读学位期间发表的论著、获奖情况及发明专利等项第137-138页

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