| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 计算机联锁系统的应用现状 | 第11-13页 |
| 1.2 寿命预测方法的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 本文的研究意义 | 第15页 |
| 1.4 本文的研究内容和论文的结构 | 第15-17页 |
| 2 计算机联锁系统寿命预测方法介绍 | 第17-33页 |
| 2.1 计算机联锁系统寿命预测的概念 | 第17-18页 |
| 2.1.1 计算机联锁系统寿命预测的基础 | 第17-18页 |
| 2.1.2 计算机联锁系统寿命预测的主要内容 | 第18页 |
| 2.2 寿命预测的关键方法 | 第18-30页 |
| 2.2.1 故障分析方法 | 第19-20页 |
| 2.2.2 寿命数据分析方法 | 第20-28页 |
| 2.2.3 寿命预测方法 | 第28-30页 |
| 2.3 计算机联锁系统寿命预测的流程 | 第30-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 3 计算机联锁系统故障树分析 | 第33-47页 |
| 3.1 计算机联锁系统使用寿命的概念 | 第33-37页 |
| 3.1.1 计算机联锁系统使用寿命的影响因素 | 第33-35页 |
| 3.1.2 计算机联锁系统使用寿命的特点 | 第35-37页 |
| 3.2 计算机联锁系统的硬件结构 | 第37-41页 |
| 3.3 计算机联锁系统故障树的建立及分析 | 第41-45页 |
| 3.3.1 建立故障树模型 | 第41-43页 |
| 3.3.2 故障树定性分析 | 第43-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-47页 |
| 4 计算机联锁系统寿命数据分析 | 第47-71页 |
| 4.1 数据的收集和整理 | 第47-49页 |
| 4.2 单元寿命分布的选择与检验 | 第49-59页 |
| 4.2.1 指数分布的选择与检验 | 第50-51页 |
| 4.2.2 正态分布的选择与检验 | 第51-53页 |
| 4.2.3 对数正态分布的选择与检验 | 第53-55页 |
| 4.2.4 威布尔分布的选择与检验 | 第55-59页 |
| 4.3 单元寿命分布的参数估计 | 第59-67页 |
| 4.3.1 服从指数分布的单元的参数估计 | 第60-63页 |
| 4.3.2 服从威布尔分布的单元寿命分布的参数估计 | 第63-67页 |
| 4.4 寿命数据分析工具的实现 | 第67-69页 |
| 4.4.1 Eclipse平台概述 | 第67-68页 |
| 4.4.2 功能特点与界面 | 第68-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 5 计算机联锁系统寿命预测 | 第71-85页 |
| 5.1 系统寿命预测模型 | 第71-74页 |
| 5.1.1 平均剩余寿命预测法 | 第71-72页 |
| 5.1.2 复杂系统的综合评估模型 | 第72页 |
| 5.1.3 系统的结构函数 | 第72-74页 |
| 5.2 XY型计算机联锁系统实例分析 | 第74-83页 |
| 5.2.1 系统硬件结构概述 | 第75-76页 |
| 5.2.2 系统寿命数据收集 | 第76-77页 |
| 5.2.3 系统寿命预测模型的应用 | 第77-83页 |
| 5.3 本章小结 | 第83-85页 |
| 6 总结与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 总结 | 第85-86页 |
| 6.2 展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 图索引 | 第91-93页 |
| 表索引 | 第93-95页 |
| 作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第95-99页 |
| 学位论文数据集 | 第99页 |