| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-14页 |
| ·SoC 的发展和特点 | 第11-12页 |
| ·SoC 中电源问题的产生 | 第12-14页 |
| 2 IR 压降介绍 | 第14-22页 |
| ·SoC 中IR 压降的产生和影响 | 第14-16页 |
| ·压降的分析方法 | 第16-17页 |
| ·传统的静态压降分析方法 | 第16页 |
| ·新的动态压降分析方法 | 第16-17页 |
| ·静态分析方法和动态分析方法结合 | 第17页 |
| ·电源完整性分析的流程及RedHawk 工具介绍 | 第17-20页 |
| ·项目介绍 | 第20-22页 |
| 3 静态压降分析方法 | 第22-35页 |
| ·静态压降分析方法 | 第22-28页 |
| ·动态压降分析方法 | 第28-35页 |
| 4 静态压降分析结果及优化方案 | 第35-39页 |
| ·静态压降分析结果 | 第35-36页 |
| ·优化静态压降问题 | 第36-39页 |
| 5 动态压降分析结果及优化方案 | 第39-47页 |
| ·动态压降分析结果 | 第39-41页 |
| ·优化动态压降问题 | 第41-47页 |
| 6 CPU 压降分布总结 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第50页 |