中小企业高管异质性与产品创新绩效关系研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| ·研究背景及问题提出 | 第8-11页 |
| ·研究背景 | 第8-10页 |
| ·问题提出 | 第10-11页 |
| ·研究目的及研究意义 | 第11-13页 |
| ·研究目的 | 第11-12页 |
| ·研究意义 | 第12-13页 |
| ·研究方法与拟突破难点 | 第13-14页 |
| ·研究方法 | 第13-14页 |
| ·拟突破难点 | 第14页 |
| ·研究框架与技术路线 | 第14-16页 |
| ·研究框架 | 第14-15页 |
| ·技术路线 | 第15-16页 |
| 2 理论及文献综述 | 第16-29页 |
| ·基于高管异质性的研究 | 第16-22页 |
| ·高管团队概念及理论基础 | 第16-18页 |
| ·高管异质性的概念和维度 | 第18-21页 |
| ·高管异质性研究综述 | 第21-22页 |
| ·基于创新绩效的研究 | 第22-27页 |
| ·创新绩效的概念 | 第22-24页 |
| ·基于创新绩效测评的研究 | 第24-26页 |
| ·其它创新绩效研究 | 第26-27页 |
| ·高管异质性与创新绩效关系研究综述 | 第27-29页 |
| 3 元分析简介 | 第29-42页 |
| ·元分析发展历史 | 第29-31页 |
| ·元分析的研究步骤 | 第31-32页 |
| ·元分析的计算标准 | 第32-35页 |
| ·效应值 | 第33-34页 |
| ·异质性检验 | 第34-35页 |
| ·元分析的偏倚 | 第35-38页 |
| ·常见偏倚 | 第36-37页 |
| ·发表偏倚检测方法 | 第37-38页 |
| ·元分析的优点和缺陷 | 第38-40页 |
| ·元分析的优点 | 第39页 |
| ·元分析的缺陷 | 第39-40页 |
| ·元分析应用综述 | 第40-42页 |
| 4 实证研究 | 第42-53页 |
| ·文献收集及假设 | 第42-44页 |
| ·效应值及可信区间的计算 | 第44-47页 |
| ·效应值和置信区间的计算 | 第44-46页 |
| ·平均效应值和置信区间的计算 | 第46-47页 |
| ·异质性检验 | 第47-48页 |
| ·调节作用分析 | 第48-49页 |
| ·测量因素 | 第48-49页 |
| ·情境因素 | 第49页 |
| ·发表偏倚分析 | 第49-53页 |
| 5 讨论、结论与建议 | 第53-57页 |
| ·研究讨论 | 第53-54页 |
| ·研究结论 | 第54-56页 |
| ·相关建议 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读学位期间主要科研成果 | 第65页 |
