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可控硅整流电路的蒸发冷却研究

中文摘要第1-4页
英文摘要第4-7页
第一章 绪论第7-11页
 §1-1 概述第7-8页
 §1-2 蒸发冷却技术在国内外的发展现状第8-9页
  1-2-1 蒸发冷却技术在国内的发展现状第8-9页
  1-2-2 蒸发冷却技术在国外的发展现状第9页
 §1-3 现阶段蒸发冷却技术存在的主要问题第9-10页
 §1-4 本论文的工作第10-11页
第二章 可控硅整流电路的冷却方式第11-16页
 §2-1 现阶段可控硅整流电路主要采用的冷却方式第11-14页
  2-1-1 自冷第11页
  2-1-2 风冷第11-12页
  2-1-3 液冷第12-14页
 §2-2 可控硅整流电路采用相变冷却的发展现状第14-15页
  2-2-1 热管冷却系统第14-15页
  2-2-2 浸泡式冷却系统第15页
 §2-3 本章小节第15-16页
第三章 制冷剂的选择第16-24页
 §3-1 制冷剂的发展第16-17页
 §3-2 制冷剂的一般选用原则第17-21页
 §3-3 电气设备冷却剂的选择第21-23页
 §3-4 本章小节第23-24页
第四章 可控硅整流电路蒸发冷却的理论研究第24-35页
 §4-1 沸腾换热的机理第24-30页
  4-1-1 沸腾的类型第24页
  4-1-2 气泡的发生和运动规律第24-28页
  4-1-3 大容器饱和沸腾第28-29页
  4-1-4 传热关联式第29-30页
 §4-2 可控硅整流电路蒸发冷却系统设计方案的选定第30-34页
  4-2-1 晶闸管的特点、用途及发展现状第30-31页
  4-2-2 晶闸管的热阻第31-32页
  4-2-3 设计方案的选定第32-33页
  4-2-4 晶闸管的恒压浸泡式冷却系统设计第33-34页
 §4-3 本章小节第34-35页
第五章 可控硅整流电路的蒸发冷却系统第35-47页
 §5-1 整流电路的设计第35-38页
 §5-2 冷却系统的设计第38-43页
  5-2-1 蒸发器的设计计算第38-39页
  5-2-2 冷凝器的设计计算第39-42页
  5-2-3 液槽的设计第42-43页
  5-2-4 蒸发器的充液高度第43页
 §5-3 测量系统的设计第43-45页
  5-3-1 测温系统第43-44页
  5-3-2 压力系统和安全系统第44页
  5-3-3 电路中电流、电压的测量第44页
  5-3-4 实验系统实物图第44-45页
 §5-4 设计和实验中应注意的问题第45-46页
 §5-5 本章小节第46-47页
第六章 实验数据的处理第47-56页
 §6-1 晶闸管的耗散功率第47-49页
  6-1-1 通态平均电流第47-48页
  6-1-2 耗散功率第48-49页
 §6-2 晶闸管的结温第49-50页
 §6-3 实验数据的整理与分析第50-54页
  6-3-1 晶闸管表面温升曲线第50-52页
  6-3-2 晶闸管表面温度与冷媒温度的对比曲线第52页
  6-3-3 晶闸管表面与环境间的热阻与热流量的变化曲线第52-53页
  6-3-4 不同散热条件下,晶闸管表面与环境之间的热阻的比较第53-54页
 §6-4 本文存在的问题及今后工作的设想第54-55页
 §6-5 本章小节第55-56页
第七章 主要结论第56-58页
参考文献第58-61页
附录A第61-63页
致谢第63-64页
攻读学位期间所取得的相关科研成果第64页

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