内容提要 | 第1-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·研究背景 | 第7-9页 |
·同类研究现状 | 第9-10页 |
·国外发展现状 | 第9页 |
·国内发展现状 | 第9-10页 |
·研究意义 | 第10页 |
·论文主要研究内容 | 第10-11页 |
·本章小结 | 第11-13页 |
第二章 基于WINDOWS CE 的仪器控制系统结构及特点 | 第13-25页 |
·基于.NET 技术的智能设备应用 | 第13-19页 |
·Windows Mobile5.0 和.Net Compact Framework | 第14-15页 |
·系统开发和应用平台 | 第15-19页 |
·基于PDA 的AFS-3100 控制系统结构组成 | 第19-21页 |
·系统工作流程 | 第21-23页 |
·本章小节 | 第23-25页 |
第三章 系统模块化的设计与实现 | 第25-47页 |
·系统关键技术及实现 | 第25-32页 |
·AFS-3100 的通信协议 | 第25-26页 |
·建立PDA 与仪器的蓝牙连接 | 第26-28页 |
·数据传输的设计与实现 | 第28-32页 |
·系统功能模块具体设计与实现 | 第32-43页 |
·联机通讯模块 | 第33-34页 |
·仪器自检模块 | 第34-37页 |
·仪器工作条件设置模块 | 第37-40页 |
·测量相关模块 | 第40-43页 |
·数据存储和调用 | 第43-44页 |
·本章小结 | 第44-47页 |
第四章 数据处理相关算法程序的设计与实现 | 第47-57页 |
·原子荧光光谱分析原理简介 | 第47-49页 |
·标准曲线法测量 | 第49-54页 |
·一阶线性回归算法 | 第50-52页 |
·二阶非线性回归算法 | 第52-54页 |
·与仪器性能相关的测试算法 | 第54-56页 |
·精密度测试算法 | 第54-55页 |
·检出限测试算法 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 系统测试和应用 | 第57-65页 |
·系统正确性测试 | 第57-61页 |
·标准样品测量对比验证 | 第57-59页 |
·样品测量对比验证 | 第59-60页 |
·可重现性测试 | 第60-61页 |
·系统可移植性测试 | 第61-63页 |
·应用情况 | 第63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第六章 全文总结 | 第65-67页 |
·主要工作及成果 | 第65页 |
·存在的主要不足 | 第65-66页 |
·对今后工作的建议 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
附录 | 第71-73页 |
摘要 | 第73-76页 |
ABSTRACT | 第76-79页 |
致谢 | 第79页 |