首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--设计论文

纳米尺度集成电路统计时序分析与成品率优化方法研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
第一章 引言第9-18页
 1、研究动机和背景第9-15页
   ·、统计静态时序分析的研究现状第13页
   ·、基于时钟偏斜规划的成品率优化方法的研究现状第13-15页
 2 本文的研究内容和主要贡献第15-17页
   ·、基于自适应随机配置法的统计静态时序分析方法第15-16页
   ·、成品率驱动的考虑非高斯时延偏差的时钟偏斜规划方法第16-17页
 3、本文的组织结构第17-18页
第二章 统计静态时序分析的研究背景第18-36页
 1、纳米工艺下的工艺偏差第18-24页
   ·、影响电路性能的偏差分类第18-21页
   ·、影响电路性能的工艺偏差第21-24页
 2、基于边界的时序分析方法第24-26页
 3、考虑片内偏差影响的统计时延建模方法第26-31页
   ·、工艺偏差影响下的统计时延模型建模流程第26-28页
   ·、主元分析技术第28-31页
 4、基于路径和基于模块的时序分析方法第31-35页
   ·、基于路径的统计时序分析第31-33页
   ·、基于模块的统计时序分析第33-35页
 5、本章小结第35-36页
第三章 统计静态时序分析—关键的MAX问题求解第36-63页
 1、二阶多项式时延模型第36-38页
 2、采用非高斯时延模型的MAX求解算法第38-44页
   ·、基于矩匹配的方法第39-43页
   ·、随机Galerkin方法第43-44页
 3、基于稀疏网格的随机配置法第44-49页
   ·、MAX问题的描述第44-45页
   ·、基于稀疏网格的多维高斯积分方法第45-47页
     ·、一维Gaussian-Hermite数值积分第46页
     ·、基于稀疏网格技术的多维高斯积分第46-47页
   ·、与已有的多维高斯积分方法的比较第47-49页
     ·、基于张量积的多维高斯积分第47页
     ·、基于降维技术的高斯积分第47-48页
     ·、几种积分方法的精度和复杂度比较第48-49页
 4、自适应的随机随配置法第49-58页
   ·、MAX的三种非线性情况第49-51页
   ·、不同非线性MAX情况下的算法比较第51-53页
   ·、通用的自适应MAX算法第53-56页
   ·、基于端口移除技术和稀疏网格随机配置法的MAX计算第56-58页
 5、数值实验结果和分析第58-62页
 6、本章小结第62-63页
第四章 纳米工艺参数成品率分析相关背景回顾第63-73页
 1、同步时序VLSI数字电路的时序性能第63-68页
   ·、同步时序数字VLSI系统的基本工作原理第63-64页
   ·、同步时序数字VLSI系统的时序特征第64-66页
   ·、同步时序数字VLSI系统的时序约束第66-68页
 2 基于统计静态时序分析的时序成品率预测方法第68-72页
   ·、芯片参数成品率的定义第68-70页
   ·、性能空间上的时序成品率第70-71页
   ·、基于蒙特卡罗方法的芯片参数成品率分析方法第71-72页
 3、本章小结第72-73页
第五章 考虑非高斯关键路径时延分布的成品率优化方法第73-93页
 1、时钟偏斜规划及其对电路性能的影响第73-75页
 2、已有的成品率驱动的时钟偏斜规划回顾第75-78页
   ·、固定安全余量添加法第75-76页
   ·、最小平方差算法第76页
   ·、最小均值环算法第76页
   ·、递增式安全余量分配算法第76-77页
   ·、基于最小价值-时间比环的算法第77-78页
 3、基于时钟偏斜规划的通用形式成品率优化问题描述第78-84页
   ·、基于MIN-MAX形式的通用描述第79-80页
   ·、对以有工作的统计解释第80-84页
 4、问题的求解:通用的最小平衡算法第84-89页
   ·、GMB算法框架第84-85页
   ·、带参数的最短路径算法第85-86页
   ·、快速的反CDF函数计算第86-88页
   ·、GMB算法的实现第88-89页
 5、数值实验结果和分析第89-92页
 6、本章小结第92-93页
第六章 总结和展望第93-96页
 1、全文总结第93-94页
 2、对未来工作的展望第94-96页
参考文献第96-103页
已发表或录用文章列表第103-104页
 1、第一学生作者第103页
 其他第103-104页
致谢第104-105页

论文共105页,点击 下载论文
上一篇:真空激光有质动力加速机制和物理特性的研究
下一篇:新型稀土激光材料的研究