硅/HF界面电化学特性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-19页 |
| ·电化学加工技术介绍 | 第7-10页 |
| ·微电子机械系统及其微加工技术 | 第10-11页 |
| ·硅电化学刻蚀技术及硅微通道的应用 | 第11-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-17页 |
| ·本文研究主要内容及研究意义 | 第17-19页 |
| 第二章 硅/HF界面电化学刻蚀相关原理 | 第19-30页 |
| ·半导体和电解液界面 | 第19-20页 |
| ·硅的基本性质 | 第20-21页 |
| ·硅电化学刻蚀阳极氧化原理 | 第21-22页 |
| ·硅/HF电化学刻蚀的相关模型 | 第22-25页 |
| ·电化学刻蚀工艺的装置 | 第25-28页 |
| ·表面活性剂介绍 | 第28-30页 |
| 第三章 硅通道形成实验以及理论分析 | 第30-38页 |
| ·硅电化学实验过程 | 第30-33页 |
| ·硅通道形成的理论分析 | 第33-35页 |
| ·传质效应对电化学刻蚀的影响 | 第35页 |
| ·暗电流分析 | 第35-38页 |
| 第四章 硅/HF的电化学参数特性分析 | 第38-46页 |
| ·HF浓度对于电化学刻蚀的影响 | 第38-40页 |
| ·乙醇的添加对于电化学实验的影响 | 第40-41页 |
| ·电压电流特性的分析 | 第41-43页 |
| ·光照强度对电化学刻蚀的影响 | 第43-44页 |
| ·温度对电化学刻蚀的影响 | 第44-46页 |
| 结论 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |