| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外技术发展现状 | 第13-15页 |
| 1.3 研究切入点和内容分析 | 第15页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第15-18页 |
| 第二章 SEU敏感性模型与研究基础 | 第18-26页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 SEU敏感性研究模型 | 第18-19页 |
| 2.3 研究基础 | 第19-22页 |
| 2.4 研究方法 | 第22-23页 |
| 2.4.1 故障注入 | 第22-23页 |
| 2.4.2 三模冗余和动态可重构 | 第23页 |
| 2.5 研究工具 | 第23-26页 |
| 2.5.1 FPGA_Editor | 第23-24页 |
| 2.5.2 模拟故障源注入平台 | 第24页 |
| 2.5.3 Chipscope | 第24页 |
| 2.5.4 Planahead | 第24-26页 |
| 第三章 基于IP核的FFT敏感性实验及分析 | 第26-36页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 敏感性实验设计 | 第26页 |
| 3.3 实验内容 | 第26-28页 |
| 3.4 实验结果与分析 | 第28-34页 |
| 3.4.1 实验结果 | 第28-33页 |
| 3.4.2 实验结论 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 基于软件实现的FFT敏感性实验及分析 | 第36-42页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 敏感性实验设计 | 第36-37页 |
| 4.3 实验内容 | 第37-39页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第39-41页 |
| 4.4.1 实验结果 | 第39-40页 |
| 4.4.2 实验结论 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 基于TMR及动态重构的FPGA故障注入测试 | 第42-50页 |
| 5.1 引言 | 第42页 |
| 5.2 故障注入测试设计 | 第42-46页 |
| 5.2.1 测试单元 | 第42-43页 |
| 5.2.2 模块设计 | 第43-44页 |
| 5.2.3 区域面积预算与划分 | 第44-45页 |
| 5.2.4 重配置文件生成与加载 | 第45-46页 |
| 5.3 测试结果与分析 | 第46-49页 |
| 5.3.1 测试结果 | 第46-48页 |
| 5.3.2 结果分析 | 第48-49页 |
| 5.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 结束语 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-60页 |
| 作者简历 | 第60页 |