片上集成的品质因数时域测量电路的研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第13-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-21页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第17-18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 论文的创新点 | 第19-20页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第20-21页 |
| 第二章 品质因数的时域电学测量原理 | 第21-25页 |
| 2.1 品质因数的时域电学测量原理 | 第21-23页 |
| 2.2 测量电路构架 | 第23页 |
| 2.3 小结 | 第23-25页 |
| 第三章 品质因数时域测量电路的设计 | 第25-65页 |
| 3.1 单一频率的品质因数测量电路设计 | 第25-46页 |
| 3.1.1 电路工作原理 | 第25-26页 |
| 3.1.2 可重构电路误差分析 | 第26-33页 |
| 3.1.3 可重构电路稳定性分析 | 第33-37页 |
| 3.1.4 OTA用作比较器的精度要求 | 第37-39页 |
| 3.1.5 集成电路实现 | 第39-43页 |
| 3.1.6 电路后仿真结果 | 第43-46页 |
| 3.2 宽频带的品质因数测量电路设计 | 第46-59页 |
| 3.2.1 电路工作原理 | 第47-48页 |
| 3.2.2 可重构电路稳定性分析 | 第48-52页 |
| 3.2.3 可重构电路误差分析 | 第52-55页 |
| 3.2.4 集成电路实现 | 第55-57页 |
| 3.2.5 电路后仿真结果 | 第57-59页 |
| 3.3 宽频带的品质因数测量电路的改进 | 第59-64页 |
| 3.3.1 改进部分电路及工作原理 | 第59-61页 |
| 3.3.2 改进电路后仿真结果 | 第61-64页 |
| 3.4 小结 | 第64-65页 |
| 第四章 高品质因数的时域测量电路设计 | 第65-99页 |
| 4.1 电路工作原理 | 第65-66页 |
| 4.2 系统精度对电路参数的要求 | 第66-72页 |
| 4.2.1 比较器增益与精度和Q值的关系 | 第66-69页 |
| 4.2.2 其他非理想因素 | 第69-72页 |
| 4.3 集成电路实现 | 第72-89页 |
| 4.3.1 比较器 | 第72-86页 |
| 4.3.2 数字控制逻辑电路 | 第86-89页 |
| 4.4 电路后仿真结果 | 第89-98页 |
| 4.4.1 第一种时序逻辑方案后仿结果 | 第89-93页 |
| 4.4.2 第二种时序逻辑方案后仿结果 | 第93-98页 |
| 4.5 小结 | 第98-99页 |
| 第五章 电源管理及片外电路 | 第99-113页 |
| 5.1 基准电路 | 第99-108页 |
| 5.1.1 基准电路设计 | 第99-101页 |
| 5.1.2 基准电路仿真结果 | 第101-108页 |
| 5.2 片外计数电路及测试方案 | 第108-112页 |
| 5.2.1 片外计数电路 | 第108-109页 |
| 5.2.2 测试方案 | 第109-112页 |
| 5.3 小结 | 第112-113页 |
| 第六章 总结与展望 | 第113-115页 |
| 6.1 总结 | 第113页 |
| 6.2 展望 | 第113-115页 |
| 参考文献 | 第115-121页 |
| 附录 | 第121-129页 |
| 致谢 | 第129-131页 |
| 作者简介 | 第131-133页 |
