| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第17-37页 |
| 1.1 引言 | 第17-19页 |
| 1.2 自适应光学技术概述 | 第19-24页 |
| 1.2.1 像差描述 | 第20-21页 |
| 1.2.2 波前传感器 | 第21-22页 |
| 1.2.3 波前校正器 | 第22-24页 |
| 1.2.4 波前处理与控制系统 | 第24页 |
| 1.3 多级校正器解耦控制技术的发展现状 | 第24-33页 |
| 1.3.1 模式解耦控制技术 | 第25-28页 |
| 1.3.2 区域解耦控制技术 | 第28-32页 |
| 1.3.3 多级校正器解耦控制技术发展需求 | 第32-33页 |
| 1.4 本文主要研究内容与结构 | 第33-37页 |
| 第2章 基于Zernike模式解耦控制算法性能分析 | 第37-57页 |
| 2.1 引言 | 第37页 |
| 2.2 Zernike模式解耦控制算法原理 | 第37-39页 |
| 2.3 问题描述 | 第39-40页 |
| 2.4 基于Zernike模式解耦算法性能验证 | 第40-54页 |
| 2.4.1 仿真模型建立 | 第40-41页 |
| 2.4.2 像差补偿能力分析 | 第41-46页 |
| 2.4.3 耦合抑制性能分析 | 第46-54页 |
| 2.5 本章小结 | 第54-57页 |
| 第3章 基于拉普拉斯本征函数的多级校正器解耦控制技术研究 | 第57-77页 |
| 3.1 引言 | 第57页 |
| 3.2 拉普拉斯本征函数 | 第57-63页 |
| 3.2.1 本征函数特性 | 第57-59页 |
| 3.2.2 常见的几类本征函数 | 第59-63页 |
| 3.3 基于本征函数的解耦控制算法原理 | 第63-65页 |
| 3.4 基于本征函数的解耦控制算法性能验证 | 第65-75页 |
| 3.4.1 仿真验证 | 第65-69页 |
| 3.4.2 实验验证 | 第69-75页 |
| 3.5 本章小结 | 第75-77页 |
| 第4章 基于直接斜率的多级校正器解耦控制技术研究 | 第77-98页 |
| 4.1 引言 | 第77页 |
| 4.2 基于直接斜率解耦控制算法原理 | 第77-80页 |
| 4.3 基于直接斜率解耦控制算法性能验证 | 第80-97页 |
| 4.3.1 仿真验证 | 第80-92页 |
| 4.3.2 实验验证 | 第92-97页 |
| 4.4 本章小结 | 第97-98页 |
| 第5章 基于投影抑制的多级校正器解耦控制技术研究 | 第98-116页 |
| 5.1 引言 | 第98页 |
| 5.2 基于投影抑制的解耦控制算法原理 | 第98-100页 |
| 5.3 基于投影抑制的解耦控制算法性能验证 | 第100-115页 |
| 5.3.1 数值仿真验证 | 第100-106页 |
| 5.3.2 实验验证 | 第106-115页 |
| 5.4 本章小结 | 第115-116页 |
| 第6章 总结与后续展望 | 第116-120页 |
| 6.1 本论文的主要研究内容 | 第116-117页 |
| 6.2 本论文的主要创新工作 | 第117-118页 |
| 6.3 现存在问题及展望 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-128页 |
| 致谢 | 第128-130页 |
| 个人简历及攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第130页 |