| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 CMOS 图像传感器简介 | 第8-9页 |
| 1.2 TDI CMOS 图像传感器现状 | 第9-12页 |
| 1.3 TDI CMOS 图像传感器的指标 | 第12-13页 |
| 1.4 选题的目的和意义 | 第13-14页 |
| 1.5 本文架构 | 第14-16页 |
| 第二章 CMOS 图像传感器中 ADC 的研究 | 第16-32页 |
| 2.1 CMOS 图像传感器中 ADC 的常用架构 | 第16-18页 |
| 2.1.1 列级架构 ADC | 第16-17页 |
| 2.1.2 像素级 ADC | 第17页 |
| 2.1.3 芯片级 ADC | 第17-18页 |
| 2.2 ADC 的主要性能参数 | 第18-23页 |
| 2.2.1 ADC 主要的静态性能参数 | 第18-21页 |
| 2.2.2 ADC 主要的动态性能指标 | 第21-23页 |
| 2.3 CMOS 图像传感器中的列级 ADC 架构分析 | 第23-27页 |
| 2.3.1 逐次逼近 ADC | 第23-24页 |
| 2.3.2 循环 ADC | 第24-25页 |
| 2.3.3 单斜 ADC | 第25-27页 |
| 2.4 基于时间的时域 ADC 的基本架构 | 第27-30页 |
| 2.4.1 斜坡积分型 ADC | 第28页 |
| 2.4.2 脉冲宽度调制(Pulse width modulation, PWM) ADC | 第28-29页 |
| 2.4.3 级别交织或异步 ADC | 第29-30页 |
| 2.4.4 基于电压控制延迟线延迟单元的 ADC | 第30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 时间数字转换器 | 第32-37页 |
| 3.1 时间数字转换器的简单背景介绍 | 第32页 |
| 3.2 数字延迟线 TDC | 第32-33页 |
| 3.3 游标卡尺振荡器 TDC | 第33-34页 |
| 3.4 游标卡尺延迟线的时间数字转换器 | 第34-35页 |
| 3.5 混合型时间数字转换器 | 第35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 用于 CMOS 图像传感器中的时域 ADC 设计 | 第37-53页 |
| 4.1 用于 CMOS 图像传感器中的时域 ADC 的架构和原理 | 第37-39页 |
| 4.2 电压时间转换电路的设计 | 第39-43页 |
| 4.2.1 斜坡发生器的设计 | 第39-42页 |
| 4.2.2 电压到时间的转换 | 第42-43页 |
| 4.3 10 位两步粗细量化的 TDC 的构造和原理 | 第43-50页 |
| 4.3.3 精细量化的延迟线 TDC 的设计 | 第44-50页 |
| 4.4 时域 ADC 仿真结果与分析 | 第50-53页 |
| 第五章 CMOS 图像传感器中的时域 ADC 的改进 | 第53-59页 |
| 5.1 改进的时域 ADC 的电路设计和改进 | 第53-57页 |
| 5.1.1 斜坡发生器的电路 | 第53-55页 |
| 5.1.2 10 位具有 VDL 型 TDC 的混合型 TDC | 第55页 |
| 5.1.3 精细量化的 VDL 型 TDC 的设计 | 第55-57页 |
| 5.2 改进的时域 ADC 仿真结果与分析 | 第57-58页 |
| 5.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-62页 |
| 6.1 工作总结 | 第59-60页 |
| 6.2 工作展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
