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基于SPAD的荧光寿命图像传感器关键技术研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第1章 绪论第9-19页
    1.1 荧光成像技术发展第9-12页
    1.2 基于SPAD阵列的FLIM图像传感器发展现状第12-17页
        1.2.1 FLIM图像传感器架构发展第12-15页
        1.2.2 SPAD阵列及淬灭电路发展第15-16页
        1.2.3 荧光寿命估算算法第16-17页
    1.3 基于SPAD的FLIM设计目标第17页
    1.4 课题研究的主要内容第17-19页
第2章 SPAD像素的理论研究第19-31页
    2.1 SPAD的基本原理和基本结构第19页
    2.2 SPAD的参数与指标第19-24页
        2.2.1 暗计数第20页
        2.2.2 后脉冲第20-21页
        2.2.3 时间抖动第21-22页
        2.2.4 光子检测概率第22-24页
    2.3 基于Verilog A的SPAD模型第24-30页
        2.3.1 SPAD传统电路级模型第24-25页
        2.3.2 SPAD I-V特性第25-26页
        2.3.3 SPAD统计特性第26-27页
        2.3.4 SPAD的温度特性描述第27-28页
        2.3.5 淬灭电路第28-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 FLIM传感器读出电路研究第31-41页
    3.1 应用于FLIM中的TDC研究第31-33页
    3.2 应用于FLIM中的PLL研究第33-40页
        3.2.1 PLL系统传输函数第34-35页
        3.2.2 鉴频鉴相器原理第35-36页
        3.2.3 电荷泵原理第36页
        3.2.4 低通滤波器原理第36-37页
        3.2.5 压控振荡器原理第37-38页
        3.2.6 PLL的相位噪声理论第38-40页
    3.3 应用于FLIM中的寄存器组研究第40页
    3.4 本章小结第40-41页
第4章 基于像素内预处理信号的FLIM图像传感器第41-55页
    4.1 基于集成像素的芯片架构和工作流程第41-44页
    4.2 SPAD集成像素的设计与仿真第44-45页
    4.3 淬灭电路的设计与仿真第45-46页
    4.4 TDC的设计与仿真第46-48页
    4.5 PLL的设计与仿真第48-51页
        4.5.1 PLL中电荷泵的设计第48页
        4.5.2 PLL中压控振荡器的设计第48-50页
        4.5.3 PLL整体参数及仿真第50-51页
    4.6 芯片总体仿真与参数第51-54页
    4.7 本章小结第54-55页
第5章 CMM算法与推演范围拓展方案第55-65页
    5.1 CMM算法第55-56页
    5.2 RLD算法理论第56-58页
    5.3 基于RLD的CMM算法推演范围拓展方案第58-63页
        5.3.1 CMM拓展范围方案第58-61页
        5.3.2 拓展方案泊松噪声第61页
        5.3.3 拓展方案仿真验证第61-63页
    5.4 本章小结第63-65页
第6章 总结与展望第65-67页
    6.1 工作总结第65页
    6.2 工作展望第65-67页
参考文献第67-73页
发表论文和参加科研情况说明第73-75页
致谢第75-76页

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