基于联动测试设备的晶体管测试方法优化设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 我国测试产业发展的现状 | 第10-11页 |
| 1.2 我国测试产业面临的挑战与机遇 | 第11-13页 |
| 1.2.1 我国测试产业面临的挑战 | 第11-12页 |
| 1.2.2 我国测试产业面临的机遇 | 第12-13页 |
| 1.3 本文主要工作 | 第13页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 晶体管测试前工序流程及测试方法分析 | 第15-29页 |
| 2.1 晶体管测试前工序流程 | 第15-18页 |
| 2.2 晶体管结构与工作原理 | 第18-20页 |
| 2.3 晶体管常见的潜在失效模式 | 第20-21页 |
| 2.4 晶体管主要参数及测试方法 | 第21-24页 |
| 2.4.1 晶体管主要参数 | 第21-22页 |
| 2.4.2 晶体管测试方法 | 第22-24页 |
| 2.5 晶体管可靠性测试 | 第24-28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 晶体管测试设备分析 | 第29-39页 |
| 3.1 联动测试设备分析 | 第29-33页 |
| 3.1.1 联动测试设备硬件分析 | 第29-33页 |
| 3.1.2 联动测试设备有效性验证方法分析 | 第33页 |
| 3.2 联动测试设备配套分选机分析 | 第33-38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 晶体管测试方法优化研究 | 第39-60页 |
| 4.1 晶体管测试方法研究 | 第39-41页 |
| 4.2 晶体管测试合格率介绍 | 第41-43页 |
| 4.3 晶体管测试方法优化及验证 | 第43-58页 |
| 4.3.1 晶体管测试方法优化 | 第43-49页 |
| 4.3.2 晶体管测试方法优化后验证 | 第49-58页 |
| 4.3.2.1 小批量生产合格率结果分析 | 第49-51页 |
| 4.3.2.2 小批量生产可靠性结果分析 | 第51-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 晶体管测试时间优化研究 | 第60-70页 |
| 5.1 晶体管测试时间分析 | 第60-61页 |
| 5.2 晶体管测试时间优化 | 第61-66页 |
| 5.3 晶体管测试时间优化后验证 | 第66-68页 |
| 5.3.1 小批量生产合格率结果分析 | 第66-67页 |
| 5.3.2 小批量生产可靠性结果分析 | 第67-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-70页 |
| 第六章 结论 | 第70-72页 |
| 6.1 本文的主要贡献 | 第70-71页 |
| 6.2 下一步工作的展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
